[发明专利]一种红外探测器芯片的清洗方法无效
申请号: | 201310590939.3 | 申请日: | 2013-11-21 |
公开(公告)号: | CN103681961A | 公开(公告)日: | 2014-03-26 |
发明(设计)人: | 王永刚;王建新;钟艳红 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海技术物理研究所 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18 |
代理公司: | 上海新天专利代理有限公司 31213 | 代理人: | 郭英 |
地址: | 200083 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 红外探测器 芯片 清洗 方法 | ||
1.一种红外探测器芯片清洗方法,其特征在于包括以下工艺步骤:
1)将探测器芯片放入去蜡剂中浸泡,探测器芯片为线列芯片时芯片浸泡10分钟,探测器芯片为面阵芯片时芯片浸泡20分钟;
2)将芯片从去蜡剂中取出,放入三氯乙烯中浸泡5分钟,溶解芯片表面的残留的去蜡液;
3)将芯片放入乙醚中浸泡3分钟,去除芯片表面的三氯乙烯,此外下一步用丙酮去除光刻胶时,三氯乙烯与丙酮容易形成悬浮物,影响芯片的清洗;
4)将乙醚浸泡过的芯片放入丙酮中,溶解光刻胶,浸泡时间为10分钟;
5)去除光刻胶后的芯片放入酒精中浸泡5分钟,溶解芯片表面残留的丙酮溶液,最后将芯片取出吹干,镜检使用。
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