[发明专利]双轴向力学拉伸处理的织物分析系统及方法无效
申请号: | 201310593548.7 | 申请日: | 2013-11-22 |
公开(公告)号: | CN103604937A | 公开(公告)日: | 2014-02-26 |
发明(设计)人: | 谢莉青 | 申请(专利权)人: | 青岛大学 |
主分类号: | G01N35/00 | 分类号: | G01N35/00;G01N21/84;G01N33/36 |
代理公司: | 青岛联智专利商标事务所有限公司 37101 | 代理人: | 杨秉利 |
地址: | 266071 山*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 轴向 力学 拉伸 处理 织物 分析 系统 方法 | ||
1.一种双轴向力学拉伸处理的织物分析系统,包括:
计算机;
照明装置,用于给织物样本照明;
信号采集控制系统,用于织物样本图像和信号采集及控制;
光学观察成像系统,用于织物样本图像放大、在线视频观察和图像捕获,将拍摄织物样本的图像,经所述的信号采集控制系统4输入到所述的计算机;
所述计算机配置的织物图像分析模块35;
其特征在于,织物分析系统还包括:
双轴向力学拉伸装置,用于对织物样本沿织物经纱和纬纱方向进行双轴向力学拉伸处理;
所述信号采集控制系统控制所述双轴向力学拉伸装置的力学拉伸比例及织物样本的在线视频观察和图像捕获;
所述的织物图像分析模块对织物样本图像完成组织点区域识别、组织类型分析、色纱排列分析、经纬纱密度的计数及比例复原计算,得出织物分析总体结果。
2.按照权利要求1所述的双轴向力学拉伸处理的织物分析系统,其特征在于,所述的双轴向力学拉伸装置包括:二维力测量机构和二维移动机构,所述的二维力测量机构由X向平板夹持器、Y向平板夹持器、X向力传感器,Y向力传感器构成,所述的X向力传感器、Y力传感器分别与所述的X向平板夹持器、Y向平板夹持器相连,X向力传感器和Y向力传感器的信号输出端连接到所述信号采集控制系统4中的A/D数据采集卡完成力值测量;所述的二维移动机构由X向夹持器移动梁、Y向夹持器移动梁、X向丝杆、Y向丝杆、X向双导杆、Y向双导杆、X向电机、Y向电机构成;所述的X向平板夹持器固定于所述X向夹持器移动梁上,所述的Y向平板夹持器固定于在所述Y向夹持器移动梁上,所述的X向电机的轴与X向丝杆连接,所述的Y向电机的轴与Y向丝杆连接,所述的双轴向力学拉伸装置用X向底座支架和Y向底座支架固定于一底盘上;所述的X向电机、Y向电机均为步进电机。
3. 按照权利要求2所述的双轴向力学拉伸处理的织物分析系统,其特征在于,所述的组合照明装置由平板透射光源、投射光源、万向座套和投射光定位支架构成;所述的平板透射光源由数排LED冷光源均匀地置于一光源箱内,所述光源箱配置的盖板为平板毛玻璃,所述光源箱安装在双轴向力学拉伸装置的下方并固定在一底板上,所述的投射光源为LED冷光源,通过万向座套安装在所述投射光定位支架上,投射光源设有亮度调节旋钮,所述定位支架安装在所述底板上。
4.按照权利要求2或3所述的双轴向力学拉伸处理的织物分析系统,其特征在于,所述的光学观察成像系统由CCD彩色数码摄像器、光学变焦显微镜和成像三维调节机构构成;所述的光学变焦显微镜为瘦型镜筒、连续变倍的长焦距镜头,光学变焦显微镜安装在所述的成像三维调节机构上,所述的CCD摄像头装接在所述的光学变焦显微镜上;所述的成像三维调节机构由X向滑板、Y向滑板、二维移动滑块、调节支架、小螺杆、小导杆、Z向移动套筒、微电机组成,所述调节支架的下端安装在所述底板上,二维移动滑块上开有X向导槽孔和Y向导槽孔,所述X向滑板、Y向滑板分别位于X向导槽孔和Y向导槽孔内,所述X向导槽孔和Y向导槽孔内与滑板上有啮合的丝道;所述微电机的轴与小螺杆连接,Z向移动套筒上开有内螺纹孔、导向孔和显微镜安装孔,小导杆穿过导向孔,小螺杆穿过内螺纹孔并与小导杆啮合,光学变焦显微镜安装在所述显微镜安装孔内。
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