[发明专利]采样脉冲生成方法和装置有效

专利信息
申请号: 201310594857.6 申请日: 2013-11-21
公开(公告)号: CN103684358A 公开(公告)日: 2014-03-26
发明(设计)人: 王庆山 申请(专利权)人: 航天科工深圳(集团)有限公司
主分类号: H03K3/02 分类号: H03K3/02;G04G7/00
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 何平
地址: 518000 广东省深圳*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 采样 脉冲 生成 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种采样脉冲生成方法,其特征在于,包括如下步骤:

接收晶振脉冲信号和标准脉冲信号;

对在当前标准脉冲信号周期内收到的所述晶振脉冲信号的个数N进行计数;

根据所述晶振脉冲信号的个数N获得对应于所述个数N的、用于设置下一标准脉冲信号周期内的采样脉冲信号周期的晶振脉冲信号的个数M;

以M个晶振脉冲信号周期作为下一标准脉冲信号周期内的采样脉冲信号周期T。

2.根据权利要求1所述的采样脉冲生成方法,其特征在于,还包括:当初始的标准脉冲信号尚未到来或者所述个数M尚未计算完成时,采用所述晶振脉冲信号的标称频率生成采样脉冲频率。

3.根据权利要求2所述的采样脉冲生成方法,其特征在于,设N6为所述晶振标称的脉冲频率对标准脉冲信号频率的商数,设M6为采样脉冲信号的目标频率对标准脉冲信号频率的商数,则所述计数的个数N所对应的晶振误差X%定义为(N-N6)/N6,取获得采样脉冲信号的目标频率所需要的晶振脉冲信号的个数M为M6(1+X%)向下取整值m。

4.根据权利要求3所述的采样脉冲生成方法,其特征在于,还包括累计由于计算M6(1+X%)向下取整而产生的误差n的步骤,误差n为计算M6(1+X%)向下取整时忽略的小数部分,设误差量Madd,Madd的初值为0,每输出一个采样脉冲信号,设置Madd累加一次n,当Madd<1时,设置M为m;当Madd≥1时,设置M为m+1,然后设置Madd自减1。

5.根据权利要求4所述的采样脉冲生成方法,其特征在于,所述标准脉冲信号为同步脉冲信号,同步脉冲信号和采样脉冲信号一起进行同步校正;预设采样脉冲个数SPnum,SPnum初值为0,每输出一个采样脉冲信号,SPnum自加1;当SPnum=N6/M6时,设置Madd=0,完成一个同步脉冲信号周期内采样脉冲信号的同步校正。

6.一种采样脉冲生成装置,其特征在于,包括:

计数模块:用于接收晶振脉冲信号和标准脉冲信号,对在当前标准脉冲信号周期内收到的所述晶振脉冲信号的个数N进行计数;

脉冲生成模块:接收计数模块发送的所述晶振脉冲信号的个数N,根据所述晶振脉冲信号的个数N获得对应于所述个数N的、用于设置下一标准脉冲信号周期内的采样脉冲信号周期的晶振脉冲信号的个数M,以M个晶振脉冲信号周期作为下一标准脉冲信号周期内的采样脉冲信号周期T。

7.根据权利要求6所述的采样脉冲生成装置,其特征在于,当初始的标准脉冲信号尚未到来或者所述个数M尚未计算完成时,所述脉冲生成模块采用所述晶振脉冲信号的标称频率生成采样脉冲频率。

8.根据权利要求7所述的采样脉冲生成装置,其特征在于,设N6为所述晶振标称的脉冲频率对标准脉冲信号频率的商数,设M6为采样脉冲信号的目标频率对标准脉冲信号频率的商数,则所述计数的个数N所对应的晶振误差X%定义为(N-N6)/N6,所述脉冲生成模块包括计算单元,所述计算单元取获得采样脉冲信号的目标频率所需要的晶振脉冲信号的个数M为M6(1+X%)向下取整值m。

9.根据权利要求8所述的采样脉冲生成装置,其特征在于,所述脉冲生成模块还包括微调单元和生成单元,所述微调单元累计由于计算M6(1+X%)向下取整而产生的误差n,误差n为计算M6(1+X%)向下取整时忽略的小数部分,设误差量Madd,Madd的初值为0,所述生成单元每输出一个采样脉冲信号,所述微调单元设置Madd累加一次n,当Madd<1时,所述微调单元设置M为m;当Madd≥1时,所述微调单元设置M为m+1,然后设置Madd自减1。

10.根据权利要求9所述的采样脉冲生成装置,其特征在于,还包括同步模块,所述标准脉冲信号为同步脉冲信号,同步脉冲信号和所述脉冲生成模块输出的采样脉冲信号一起输入至所述同步模块进行同步校正;所述脉冲生成模块预设采样脉冲个数SPnum,SPnum初值为0,所述脉冲生成模块每输出一个采样脉冲信号,所述脉冲生成模块设置SPnum自加1;当SPnum=N6/M6时,所述脉冲生成模块设置Madd=0,完成一个同步脉冲信号周期内采样脉冲信号的同步校正。

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