[发明专利]一种无需分割光纤端差的测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种测试技术，特别是一种无需分割光纤端差的测试方法。

背景技术

根据国标规定，光纤产品应给出端差值并在给定的指标内。端差通常的测试方法是光纤的E端（一盘光纤的结束端）与S端（一盘光纤的开始端）衰减之差值。由于光纤存在不均匀性（原材料及制造工艺等引起），当用户将一盘光纤分割成短光纤制造光缆时，端差值往往会发生变化与测试值不符，造成融接损失，衰减超标。

发明内容

本发明的目的是提供一种可以在不分割光纤的情况下，准确测试长光纤端差的方法，其技术方案如下：

在一根光纤的末端E与始端S之间，选取A、B长度及E端和S端中任一端为起始扫描端，A点距起始扫描端Lm，Lm≥0，AB长度从A点开始，以步长L_b向另一端移动扫描测量各AB移动点衰减值，在距另一端Lm处停止，最后一步长度若不是L_b整数，则在距另一端Lm+余长Ly处停止，然后再由此点以同样步长返回扫描至起始扫描端，测量各相同位置AB点的衰减值，把两次测量的各相同位置AB长度点的衰减值相减，拟合成端差衰减曲线。AB长度取为2Km,Lm取为100m，L_b取为200m。测试前将待测光纤与假光纤接好，接续点取为待测光纤的E端和S端并将MARKER线放在假光纤与待测光纤的接续处。小于50Km的光纤，在1310波长下接续，大于50Km的光纤在1550波长下接续。

附图说明

图1是端差测试原理图；

图2、3是光纤不均匀时的入射光及反射光示意图；

图4是端差计算示意图；

图5、6是本发明的测试方法示意图；

图7是端差衰减曲线。

具体实施方式

参见图1至图6假设一根待测光纤为10Km，选取A、B长度为2Km（因为光缆的长度一般为2-6Km，AB取太短则数据处理时间较长，不适合批量生产；取太长则测量不准确），以开始从E端向S端扫描为例，A点距接续点E端取Lm=100m，其目的是避过盲区使测试更准确。（也可从E端开始扫描，即Lm=0，但测试值会不理想。Lm取值多少与接续质量有关，一般情况下的较佳值取Lm=100m）。从E端后100m处A点以步长L_b=200m向S端进行扫描测量（AB→A₁B₁→…A_nB_n，A₁=A+L_b，B₁=B+L_b…A_n=A_n-1+L_b，B_n=B_n-1+L_b，类推），在距S端Lm=100m处停止，其目的是避过盲区，使测试更准确。如果扫描长度不是步长L_b的整数倍，则在Lm+余长Ly处停止，计算每2Km长度上的衰减，然后在从距S端Lm+Ly处返回向E端同步长扫描。测出各同样两点的衰减值，把两次测量的相同位置AB两点向的衰减值相减拟合一条端差曲线（图7）。根据此曲线就可分析出一根光纤上的端差情况，如果我们给定端差值，计算机可以给出超过给定值的所有段长的具体位置，超标的段长分割报废。以上扫描计算及拟合过程均是由计算机软件实现，用本发明方法还可测试光纤的长度，衰减和不均匀性，实际测量结果准确性在90%以上，重复性达0.005dB/Km。

实施注意事项：

1、小于50Km的光纤，在1310波长下接续，观察其末端是否有菲涅尔反射峰；

2、大于50Km的光纤，在1550波长下接续，观察其末端是否有菲涅尔反射峰；

3、测量前将待测光纤与假光纤接好，使其接续损失≤0.5dB；

4、测量时将待MARKER线放在假光纤的接续处，以显示测量中接续损失是否符合要求；

5、一般情况1310端差大于1550端差，如果发现1550大于1310时，再测一次，以确认；

6、端差值通常不超过0.1dB/Km，如果超过此值重新测试一次；

7、将端差软件测试的长度和张力度相比，误差超过1%需重新测试；

8、损失值一端正常，另一端异常大或异常小，测试可能有误，需重新测试；

9、先测试光纤的E端，将E端接续好后再取S端，以防S、E端混淆（也可先测试S端，再取E端）；

10、特别注意不要用同一端测试；

11、波形不良的光纤无法测试端差。