[发明专利]一种光学试验平台

权利要求书

1.一种光学试验平台，其特征在于：它包括一试验平台支架、一摆动调整机构和一旋转调整机构；在所述试验平台支架内部安装有所述摆动调整机构，所述旋转调整机构安装在所述摆动调整机构上部，且所述旋转调整机构与所述摆动调整机构之间为活动连接；

位于所述试验平台支架的左侧壁、右侧壁上分别固定连接有两连接架；每个所述连接架下方均设置有一位置调节块，通过所述连接架将所述试验平台支架与测试载体固定；

所述摆动调整机构包括一摆动工作台、一涡轮轴、一后轴、三滚动轴承、一后轴底座、两轴承端盖、一涡轮轴座、一键、一涡轮、一圆螺母、一涡杆、两涡杆轴承底座和一摆动摇柄；在所述摆动工作台的两侧分别连接有所述涡轮轴和后轴，所述后轴连接第一所述滚动轴承，且所述后轴通过所述后轴底座与所述试验平台支架左侧壁连接，第一所述滚动轴承设置在所述后轴底座上，所述后轴底座外侧通过一所述轴承端盖密封保护；所述涡轮轴通过所述涡轮轴座与所述试验平台支架右侧壁连接，所述涡轮轴连接第二、第三两个所述滚动轴承，且所述涡轮轴通过所述涡轮轴座与所述试验平台支架右侧壁连接，第二、第三两个所述滚动轴承设置在所述涡轮轴座上，所述涡轮轴座外侧通过另一所述轴承端盖密封保护；所述涡轮轴伸出所述试验平台支架的一端通过所述键与所述涡轮连接，所述涡轮通过所述涡轮轴的轴肩和固定在所述涡轮上的圆螺母实现轴向定位；所述涡轮与所述涡杆连接，所述涡杆由两所述涡杆轴承底座固定在所述试验平台支架上。

2.如权利要求1所述的一种光学试验平台，其特征在于：所述摆动调整机构还包括一由涡杆锁紧底座、涡杆锁紧内板和涡杆锁紧外板构成的锁紧机构，所述涡杆锁紧底座固定在所述试验平台支架上，所述涡杆锁紧内板一端连接所述涡杆锁紧底座一端，与所述涡杆内侧压紧；所述涡杆锁紧外板一端也连接所述涡杆锁紧底座一端，与所述涡杆外侧压紧，所述涡杆锁紧内板另一端与所述涡杆锁紧外板另一端通过螺栓连接在一起。

3.如权利要求1所述的一种光学试验平台，其特征在于：所述涡杆上安装有摆动摇柄。

4.如权利要求1所述的一种光学试验平台，其特征在于：所述摆动工作台采用圆筒形结构，由钢制材料制成，并在所述摆动工作台的侧壁上间隔开设有通孔。

5.如权利要求1或2或3或4所述的一种光学试验平台，其特征在于：所述旋转调整机构包括一圆形结构的旋转工作台、两压板和三个以上的光学测试产品连接环；所述旋转工作台设置在所述摆动工作台顶部，所述旋转工作台两侧分别通过一所述压板将其压紧在所述摆动工作台上，且各所述压板分别通过螺栓连接在所述摆动工作台上；位于所述旋转工作台顶部间隔开设有若干个贯通的安装孔，该安装孔的数量及大小与所述光学测试产品连接环的数量及大小呈匹配设置；各所述光学测试产品连接环上均设置有与其一体成型的两个突出并呈对称设置的螺栓孔，位于各所述螺栓孔处还分别安装有一把手；每个所述光学测试产品连接环分别通过各所述安装孔安装在所述旋转工作台上，并通过两个所述螺栓孔用螺栓将所述光学测试产品连接环固定在所述旋转工作台上。

6.如权利要求5所述的一种光学试验平台，其特征在于：所述旋转调整机构还包括长轴、校正板支撑中心台、非均匀校正板、校正帽、弹簧、平垫圈和销；所述长轴通过所述校正板支撑中心台穿设在所述旋转工作台上，所述校正板支撑中心台固定在所述旋转工作台的中心位置处；位于所述长轴的底部固定焊接有所述非均匀校正板，位于所述长轴的顶部依次套设有所述校正帽、弹簧和平垫圈，所述校正帽位于所述校正板支撑中心台上部，且位于所述平垫圈上方在所述长轴上还穿设有所述销；所述弹簧一端顶设在所述校正帽上，所述弹簧另一端顶设在所述平垫圈上。

7.如权利要求6所述的一种光学试验平台，其特征在于：所述校正板支撑中心台外缘处设置有花键结构，且所述校正帽周向上还间隔设置有三个导向杆，通过所述三个导向杆将所述校正帽与所述校正板支撑中心台花键结构的花键槽进行定位连接。

8.如权利要求6或7所述的一种光学试验平台，其特征在于：所述校正帽与所述长轴之间滑动连接，所述长轴的顶部沿轴向开设有一导向槽，所述校正帽内缘处也设置有一与所述长轴上导向槽匹配设置的凹槽，并在该凹槽上设置有一滑动键，所述滑动键通过所述长轴上的导向槽在所述长轴上滑动；在所述校正帽外缘处还设置有花键结构。

9.如权利要求6或7所述的一种光学试验平台，其特征在于：所述非均匀校正板采用扇叶状平板结构。

10.如权利要求8所述的一种光学试验平台，其特征在于：所述非均匀校正板采用扇叶状平板结构。