[发明专利]印刷电路板质量检测装置及方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种检测装置及方法，特别是指一种印刷电路板质量检测装置及方法。

背景技术

目前，在电子设计过程中，通常都是直接利用厂家提供的印刷电路板上金属走线的电阻率来计算电阻等各种参数。然而，很多制作样本电路板的厂家为了降低成本，会在金属走线中参杂劣质的金属，而设计者并不知道。这样，该金属走线的电阻率就会发生改变，由此测得的各种参数就不准确，对电子设计就会产生影响。因此，设计者在电子设计过程中测量印刷电路板上金属走线的电阻率，以判断该印刷电路板的质量是非常重要的。

发明内容

鉴于以上内容，有必要提供一种能够检测金属走线的电阻率的印刷电路板质量检测装置及方法。

一种印刷电路板质量检测装置，用以测量一印刷电路板上的金属走线的电阻率ρ，所述印刷电路板质量检测装置包括有剪切模块、放大模块、长度测量模块及电阻测量模块，所述剪切模块用以在所述金属走线的位置制作切片，以露出所述金属走线的横截面，所述放大模块用以将所述横截面放大，以测量所述横截面的高度和宽度，从而计算出所述横截面的横截面积S，所述长度测量模块用以测量所述金属走线的长度L，所述电阻测量模块用以测量所述金属走线的电阻值R，将所述横截面积S、长度L及电阻值R带入公式ρ=R*S/L计算出所述金属走线的电阻率ρ。

一种印刷电路板质量检测方法，用以测量一印刷电路板上的金属走线的电阻率ρ，包括以下步骤：

一剪切模块在所述金属走线的不同位置制作切片，以露出所述金属走线的横截面，

一放大模块放大所述横截面，以测量所述横截面的高度和宽度， 从而计算出所述横截面的横截面积S，

一长度测量模块测量所述金属走线的长度L，

一电阻测量模块测量所述金属走线的电阻值R，

将所述横截面积S、长度L及电阻值R带入公式ρ=R*S/L计算出所述金属走线的电阻率ρ。

与现有技术相比，在上述印刷电路板质量检测装置及方法中，计算出金属走线的横截面积S、长度L及电阻值R，再将各个值带入公式ρ=R*S/L，即可得出所述金属走线的电阻率ρ。通过得到的电阻率ρ与制作印刷电路板的金属走线的合格电阻率相比就可以判断所述印刷电路板是否是合格的。

附图说明

图1是本发明印刷电路板质量检测装置的一较佳实施例的连接框图。

图2是本发明印刷电路板质量检测方法的一较佳实施例的一流程图。

图3是本发明印刷电路板质量检测方法的一测量金属走线的电阻值R的一流程图。

主要元件符号说明

印刷电路板100剪切模块10放大模块20长度测量模块30电阻测量模块50电流计51电压计53

如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。

具体实施方式

请参阅图1，在本发明的一较佳实施方式中，一印刷电路板质量检测装置用以检测一印刷电路板100上金属走线的电阻率ρ。所述印刷电路板质量检测装置包括一剪切模块10、一放大模块20、一长度测量模块30及一电阻测量模块50。

所述剪切模块10用以在所述金属走线的位置制作切片，以露出所述金属走线的横截面。