[发明专利]一种非视距环境定位方法及装置有效
申请号: | 201310611435.5 | 申请日: | 2013-11-26 |
公开(公告)号: | CN103686995B | 公开(公告)日: | 2017-02-22 |
发明(设计)人: | 邓中亮;余彦培;王克己;安倩;阮凤立;李晓阳;马文旭;方叶青 | 申请(专利权)人: | 北京邮电大学 |
主分类号: | H04W64/00 | 分类号: | H04W64/00;G01S5/02 |
代理公司: | 北京三高永信知识产权代理有限责任公司11138 | 代理人: | 张耀光 |
地址: | 100876 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 视距 环境 定位 方法 装置 | ||
技术领域
本发明涉及计算机领域,特别涉及一种非视距环境定位方法及装置。
背景技术
通信基站覆盖范围广,推广成本低,基于通信基站实现定位是实现室内位置服务的重要手段。在基于通信基站的室内定位中,非视距(简称为NLOS,英文全称为None Line of Sight)误差是重要误差来源。例如,信号受建筑物遮挡时将产生非视距传播现象,造成定位终端测得的信号传播距离大于定位终端与通信基站之间的真实距离,形成非视距误差。
因此,如何减小非视距误差,以提高定位精度是当前需要解决的问题。
发明内容
本发明实施例提供一种非视距环境定位方法及装置,能够减少非视距误差,从而提高定位精度。
本发明实施例采用如下技术方案:
一种非视距环境定位方法,包括:
非视距环境定位装置将收到的X路到达时间差TDOA信号与预存的特征信号进行匹配,得到TDOA最相似的目标特征点,X为大于或等于2的整数;
非视距环境定位装置获取与所述目标特征点同一类的M个特征点,其中M为大于或等于2的整数;
非视距环境定位装置应用所述M个特征点的坐标进行定位。
一种非视距环境定位装置,包括:
匹配单元,用于将收到的X路到达时间差TDOA信号与预存的特征信号进行匹配,得到TDOA最相似的目标特征点,X为大于或等于2的整数;
获取单元,用于获取与所述目标特征点同一类的M个特征点,其中M为大于或等于2的整数;
定位单元,用于利用所述M个特征点的坐标进行定位。
基于上述技术方案,本发明实施例的非视距环境定位方法及装置将收到的X路到达时间差TDOA信号与预存的特征信号进行匹配,得到TDOA最相似的目标特征点,X为大于或等于2的整数;非视距环境定位装置获取与目标特征点同一类的M个特征点,其中M为大于或等于2的整数;非视距环境定位装置应用M个特征点的坐标进行定位。这样,通过对特征点进行分类并去除孤立点减少非视距误差,应用于目标特征同类的特征点进行定位,能够提高定位精度。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例1提供的一种非视距环境定位方法的流程图;
图2为本发明实施例2提供的一种非视距环境定位方法的流程图;
图3为本发明实施例3提供的一种特征点处理方法的流程图;
图4为本发明实施例3提供的一种特征点聚类结果示意图;
图5为本发明实施例4提供的另一种非视距环境定位装置的结构示意图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合附图对本发明实施方式作进一步地详细描述。
实施例1
如图1所示,本实施例提供一种非视距环境定位方法,包括:
110、非视距环境定位装置将收到的X路TDOA(到达时间差)信号与预存的特征信号进行匹配,得到TDOA最相似的目标特征点,X为大于或等于2的整数。
120、非视距环境定位装置获取与该目标特征点同一类的M个特征点,其中M为大于或等于2的整数。
130、非视距环境定位装置应用该M个特征点的坐标进行定位。
本实施例中的非视距环境定位装置可以为定位终端、计算机终端、通信终端等。
本发明实施例的非视距环境定位方法将收到的X路TDOA信号与预存的特征信号进行匹配,得到TDOA最相似的目标特征点,X为大于或等于2的整数;非视距环境定位装置获取与目标特征点同一类的M个特征点,其中M为大于或等于2的整数;非视距环境定位装置应用M个特征点的坐标进行定位。这样,通过对特征点进行分类并去除孤立点减少非视距误差,应用于目标特征同类的特征点进行定位,能够提高定位精度。
实施例2
如图2所示,本实施例提供一种非视距环境定位方法,包括:
210、非视距环境定位装置将收到的X路TDOA信号与预存的特征信号进行匹配,得到TDOA最相似的目标特征点,X为大于或等于2的整数。
具体地,非视距环境定位装置经接收到的多路TDOA信号与预存储的特征信号进行匹配,得到TDOA最相似的特征点,即为该目标特征点。
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