[发明专利]一种基于不均匀磁场拟合线形的自动搜索匀场方法有效

专利信息
申请号: 201310611442.5 申请日: 2013-11-26
公开(公告)号: CN103675733A 公开(公告)日: 2014-03-26
发明(设计)人: 刘朝阳;宋侃;鲍庆嘉;陈黎;刘造 申请(专利权)人: 中国科学院武汉物理与数学研究所
主分类号: G01R33/3875 分类号: G01R33/3875
代理公司: 武汉宇晨专利事务所 42001 代理人: 李鹏;王敏锋
地址: 430071 湖*** 国省代码: 湖北;42
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 基于 不均匀 磁场 拟合 线形 自动 搜索 方法
【说明书】:

技术领域

本发明涉及核磁共振谱仪的匀场技术,更具体涉及一种基于不均匀磁场拟合线形的自动搜索匀场方法。适用于高分辨的核磁共振实验匀场。 

背景技术

对于现代液体核磁共振(NMR)谱仪来说,分辨率是一个重要的指标,而影响谱图分辨率的主要因素之一就是磁场空间均匀性。由于静磁场的不均匀性引起的核磁共振信号展宽必定导致实验结果的重大误差,因此从核磁共振现象被发现以来,如何提高静磁场的均匀性(匀场)一直是一项非常重要的研究工作。 

随着谱仪技术近几十年的发展,现阶段的自动匀场技术主要分为两类:自动搜索匀场技术和梯度匀场技术。自动搜索匀场方法最早出现于1968年(R.R.Ernst.Measurement and control of magnetic field homogeneity,The review of scientific instruments.39,1968,998-1012),其基本思路是利用单纯形(Simplex)搜索等算法来优化氘(D,或2H)锁电平值或FID面积大小等评价标准从而补偿磁场。这就引入了两个问题:1)锁电平或是FID面积作为方便、直观的人为判断磁场好坏的依据,并不一定能达到良好的匀场效果(频谱线形标准)。事实证明,较高的氘锁电平和较大的FID面积都不一定对应于较窄的谱图峰宽;2)匀场搜索迭代的范围和收敛条件必须依靠人为设置。由于不同样品对补偿电流的敏感性不同,不合适的迭代步径和收敛条件都会使得搜索时间过长或是过短,均不利于获得好的匀场结果,因此繁琐的手动设置既增加了操作的难度也浪费了时间。 

1994年Zijl基于核磁共振成像(MRI)技术的原理提出了梯度匀场方法(P.C.M.Van Zijl,S.Sukumar,M.O’Neil Johnson,at al.Optimized shimming for high-resolution NMR using three-dimensional image-based field mapping,Journal of magnetic resonance A.111,1994,203-207),梯度匀场的最大优点就是可以通过梯度回波脉冲 序列测量出磁场不均匀性的空间分布,然后基于这种空间分布进行匀场。2006年,Weiger在传统梯度匀场的基础上又更进了一步,提出采用梯度匀场后的剩磁场(Residual Field)的像拟合虚拟频谱图,通过模拟的线形指标衡量并优化当前磁场(Markus Weiger,Thomas Speck,Michael Fey.Gradient shimming with spectrum optimisation,Journal of magnetic resonance.182,2006,38-48)。通常情况,梯度匀场必须同时获得磁场不均匀性的像和所用匀场线圈的单位电流作用的磁场影响(匀场线圈场图)。匀场线圈场图的制作过程稍显复杂且耗费较多时间。同时,对匀场线圈的空间影响进行成像必须在一个较均匀的磁场环境,均匀性较差的磁场容易使得匀场线圈场图测量数据的畸变从而影响拟合。 

专利采用一种基于不均匀磁场拟合线形的自动搜索匀场方法,该技术能自动拟合搜索迭代的步径和收敛条件,无需调试和校验,节省了手动设置的时间;另一方面由于通过测量空间磁场的像来拟合谱图线形,使得优化过程充分考虑频谱的半高宽和对称性等性能指标。再则,和常规的采用梯度回波成像技术的梯度匀场相比,此匀场方式可不必考虑匀场线圈场图的测量和拟合,加快了匀场速度。 

发明内容

本发明的目的是提供了一种基于不均匀磁场拟合线形的自动搜索匀场方法,为了实现上述目的,本发明采用以下技术方案: 

一种基于不均匀磁场拟合线形的自动搜索匀场方法,包括以下步骤: 

步骤1、选择匀场线圈组:选择需要进行室温匀场的匀场线圈组; 

步骤2、拟合匀场线圈的搜索步径和收敛条件:利用谱图吸收线形的二次矩大小I和匀场线圈的电流增量x的二次函数关系I=Ax2+Bx+C,其中A、B、C为二次函数系数,拟合各匀场线圈的搜索步径dj和收敛条件rj; 

步骤3、拟合表征当前磁场不均匀性的频谱图及线形指标:利用梯度回波技术获得不均匀磁场的图像数据,根据该图像数据拟合出表征当前磁场不均匀性的吸收线形谱图F,即虚拟线形,并最终计算出该虚拟线形的相关性能指标Crit; 

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院武汉物理与数学研究所,未经中国科学院武汉物理与数学研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201310611442.5/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top