[发明专利]一种介质保护膜材料的外逸电子测试系统及方法

权利要求书

1.一种介质保护膜材料的外逸电子测试方法，其特征在于，包括至少一个用于测试的循环周期T，所述的循环周期T包括如下依次连续进行的电压施加周期，

1）激发周期T_s；在被测等离子体显示屏的维持电极X和扫描电极Y上交替施加至少包括一个放电周期T_c的激发电压，在一个放电周期T_c内工作气体至少完成一次放电过程；激发电压不小于被测等离子体显示屏内工作气体放电所需的着火电压V_f；

2）等待周期T_w；在激发周期T_s结束后，将维持电极X和扫描电极Y上的施加电压置于等待电压上，等待电压小于被测等离子体显示屏内工作气体放电所需的着火电压V_f；等待时间不大于工作气体放电时产生的外逸电子的存在时间；

3）测试周期T_R；在等待周期T_w结束后，在维持电极X和扫描电极Y上分别施加同步上升的测试电压，扫描电极Y与维持电极X之间的测试电压之差V_d逐渐增加且只产生一次工作气体放电过程；

检测并记录被测等离子体显示屏中显示单元内由工作气体放电过程产生的光信号，同时得到产生光信号时扫描电极Y与维持电极X之间的测试电压之差V_D，由公式V_w＝V_f－V_D计算得出显示单元中的内部场电压V_w，根据V_w计算得到显示单元中外逸电子的数量，完成对介质保护膜材料外逸电子的一次测试。

2.根据权利要求1所述的一种介质保护膜材料的外逸电子测试方法，其特征在于，所述的激发电压的波形为方波、三角波、梯形波、多脉冲波、正弦波和指数波中的一种或多种的组合；测试电压的波形为斜波、指数波、三角波、梯形波中的一种或多种组合。

3.根据权利要求1所述的一种介质保护膜材料的外逸电子测试方法，其特征在于，所述的等待时间大于1ms。

4.根据权利要求1所述的一种介质保护膜材料的外逸电子测试方法，其特征在于，所述的被测等离子体显示屏中的扫描电极Y和维持电极分别短接在一起接连施加电压，寻址电极A短接在一起接地设置。

5.根据权利要求1所述的一种介质保护膜材料的外逸电子测试方法，其特征在于，通过多次相同循环周期T的重复测试，分别得到对应的多个测试电压之差V_D，取平均值做为测试电压之差V_D的最终测试结果。

6.一种用于实现如权利要求1所述的测试方法的介质保护膜材料的外逸电子测试系统，其特征在于，包括驱动电路，光电倍增管，示波器，计算机，控制电路和电源电路；

所述的驱动电路包括用于提供施加电压的扫描驱动电路和维持驱动电路；扫描驱动电路和维持驱动电路分别对应连接在被测等离子体显示屏上的扫描电极Y和维持电极X上；

所述的光电倍增管设置在被测等离子体显示屏中显示单元前面板的图像输出侧，用于检测显示单元内由工作气体放电过程产生的光信号，并将光信号转换为电信号输入到示波器中；

所述的示波器还用于测试对应加载在扫描电极Y和维持电极X上的施加电压信号；

所述的计算机用于设置施加电压的加载参数，用于接收示波器采集到的一路电信号和二路施加电压信号，以及用于信号数据的计算对比输出；

所述的控制电路用于将计算机输出的加载参数转换为开关信号，并与产生的开关控制时序信号一同输出到驱动电路中；

所述的电源电路用于为驱动电路和控制电路提供所需电压。

7.根据权利要求6所述的一种介质保护膜材料的外逸电子测试系统，其特征在于，所述的光电倍增管与显示单元的前面板之间设置有光学辅助系统，光学辅助系统包括至少一组目镜系统，用于使光电倍增管的检测范围聚集到目标显示单元或多个显示单元构成的目标显示区域中。

8.根据权利要求7所述的一种介质保护膜材料的外逸电子测试系统，其特征在于，所述的目镜系统中叠加设置滤光片。

9.根据权利要求6所述的一种介质保护膜材料的外逸电子测试系统，其特征在于，所述的电源电路采用可调压式直流稳态电压。

10.根据权利要求6所述的一种介质保护膜材料的外逸电子测试系统，其特征在于，所述的扫描驱动电路包括用于扫描电极Y上施加电压波形控制的方波电路、上斜波电路和下斜波电路，所述的维持驱动电路包括用于维持电极X上施加电压波形控制的方波电路和斜波电路。