[发明专利]一种利用太赫兹光谱信号提取材料光学常数的方法

说明书

技术领域

本发明属于光电子学与材料学应用技术领域，具体涉及一种利用太赫兹光谱信号提取材料光学常数的方法。

背景技术

目前，各种光谱技术已经广泛的应用于物质分析，采用太赫兹光谱信号提取材料光学常数的方法已经成为一种专业领域内的常用方法。现有的太赫兹时域光谱系统的光路如图1所示，该系统用于测量样品透射信号和参考信号的太赫兹光谱。常用提取材料光学常数的步骤如下：

1.通过实验测得样品信号和参考信号的太赫兹频谱，将两者相比表示为：

A_meas(ω)=E_sam(ω)/E_ref(ω)=T_meas(ω)exp[-jΔφ_meas(ω)]     (1)

式中E_sam(ω)和E_ref(ω)为频域中的复电场，分别表示样品信号和参考信号。T_meas(ω)为透过样品的太赫兹电场，Δφ_meas(ω)为相位变化。

2.根据实验测得的T_meas(ω)和Δφ_meas(ω)，可确定实折射率n(ω)、消光系数κ(ω)和吸收系数α(ω)分别为：

n(ω)=1+Δφmeas(ω)cωl---(2)]]>

κ(ω)=ln{4n(ω)Tmeas(ω)[1+n(ω)]2}cωl---(3)]]>