[发明专利]一种双电离的离子源无效
申请号: | 201310617392.1 | 申请日: | 2013-11-27 |
公开(公告)号: | CN103594326A | 公开(公告)日: | 2014-02-19 |
发明(设计)人: | 唐紫超;史磊;李刚;王兴龙;吴小虎;张世宇 | 申请(专利权)人: | 中国科学院大连化学物理研究所 |
主分类号: | H01J49/10 | 分类号: | H01J49/10;H01J49/14;H01J49/16 |
代理公司: | 沈阳晨创科技专利代理有限责任公司 21001 | 代理人: | 张晨 |
地址: | 116023 *** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 电离 离子源 | ||
技术领域
本发明属于离子源领域,具体涉及一种双电离的离子源。
背景技术
质谱技术是一种测量离子荷质比的分析方法,其原理是使试样中各组分在离子源中发生电离,生成不同荷质比的带正电荷的离子,经加速电场的作用,形成离子束,进入质量分析器。在质量分析器中,再利用电场和磁场使发生相反的速度色散,将它们分别聚焦而得到质谱图,从而确定其质量。
待测样品要在电离室中被离子源电离后才能被质谱检测到,以往的电离方式通常为单一的硬电离或软电离,软电离可得到样品的分子离子峰,可更好的解析谱图,但电离能量较低,对于难电离的样品不适用;硬电离的电离能量较大,但易产生碎片离子,对谱图的解析带来一定的困难。
发明内容
为了克服现有技术存在的缺陷,本发明的目的是提供一种双电离的离子源,采用EI或PI两种电离方式,拓宽了单一离子源分析多形态样品时的适用性,同时提高了碎片离子的质量选择,可有效的分析离子组成和样品结构。
本发明提供了一种双电离的离子源,该离子源由样品管,推斥极、电离室、灯丝、紫外灯、引出极、聚焦极、出射极、接地栅板、推斥板组成;
该离子源是以样品管为起点,依次为推斥极、电离室、灯丝、紫外灯、引出极、聚焦极、出射极、接地栅板及推斥板;其中,灯丝位于电离室的一侧,紫外灯位于电离室的上方。
本发明提供的双电离的离子源,该离子源由电子轰击电离(EI源)和真空紫外灯电离(PI源)两种电离方式组成。
本发明提供的双电离的离子源,所述推斥极电压为0~30V;所述引出极电压为0~15V;所述聚焦极电压为-110~0V;所述出射极电压为-41~0V;所述灯丝电离能为-70eV;所述真空紫外灯电离能为8~15eV。
本发明的有益效果是:本发明电离方式为电子轰击电离或紫外光电离两种,拓宽了单一离子源分析多形态样品时的适用性,同时提高了碎片离子的质量选择,可有效的分析离子组成和样品结构。电离产生的离子被推斥极向分析器推斥,在推斥过程中经由引出极与聚焦极进行汇聚,最终汇聚到离子源的出口上。通过调节推斥极、引出极、聚焦极的电压可以调节出射离子的能量与方向分布。
附图说明
图1是本发明一种双电离的离子源的结构图,其中,1为样品管;2为推斥极;3为电离室;4为灯丝;5为紫外灯;6为引出极;7为聚焦极;8为出射极;9为接地栅板;10为推斥板。
具体实施方式
下面结合图1对本发明作进一步的说明。
如图1所示,本发明一种双电离的离子源,以样品管为起点,依次为推斥极、电离室、灯丝、紫外灯、引出极、聚焦极、出射极、接地栅板及推斥板。其中,灯丝位于电离室的一侧,紫外灯位于电离室的上方。
本发明采用电子轰击电离或紫外光电离两种,拓宽了单一离子源分析多形态样品时的适用性,同时提高了碎片离子的质量选择,可有效的分析离子组成和样品结构。电离产生的离子被推斥极向分析器推斥,在推斥过程中经由引出极与聚焦极进行汇聚,最终汇聚到离子源的出口上。通过调节推斥极、引出极、聚焦极的电压可以调节出射离子的能量与方向分布。
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