[发明专利]用于电磁兼容试验的辐射发射测量天线的现场校准方法

权利要求书

1.用于电磁兼容试验的辐射发射测量天线的现场校准方法，其特征在于，该现场校准方法包括如下步骤：

在校准试验室内，利用现有技术的校准方法测量得到参考天线(3)的天线系数；

在校准试验室内，通过直通连接器(8)将第一衰减器(2)与第二衰减器(5)电连接；

在校准试验室内，通过信号源(1)产生电磁波信号，并通过频谱仪(6)测量得到电磁波信号的功率的第一标准值；

在校准试验室内，通过同轴电缆将参考天线(3)与第一衰减器(2)电连接，且通过同轴电缆将传递天线(4)与第二衰减器(5)电连接；

在校准试验室内，通过信号源(1)产生电磁波信号，且信号源(1)的输出功率与其测量所述第一标准值时的输出功率相同，通过频谱仪(6)测量得到电磁波信号的功率的第一测量值；

计算电磁波信号的功率的所述第一标准值与其所述第一测量值的差值得到参考天线(3)与传递天线(4)之间的插入损耗；

在电磁兼容实验室内，通过直通连接器(8)将第一衰减器(2)与第二衰减器(5)电连接；

在电磁兼容实验室内，通过信号源(1)产生电磁波信号，并通过频谱仪(6)测量得到电磁波信号的功率的第二标准值；

在电磁兼容实验室内，将待校准天线(9)通过同轴电缆与第一衰减器(2)电连接，且将传递天线(4)通过同轴电缆与第二衰减器(5)电连接；

在电磁兼容实验室内，通过信号源(1)产生电磁波信号，且信号源(1)的输出功率与其在测量所述第二标准值时的输出功率相同，并通过频谱仪(6)测量得到电磁波信号的功率的第二测量值；

计算电磁波信号的功率的所述第二标准值与所述第二测量值的差值得到待校准天线(9)与传递天线(4)之间的插入损耗；

由参考天线(3)的天线系数、参考天线(3)与传递天线(4)之间的插入损耗、以及待校准天线(9)与传递天线(4)之间的插入损耗计算得到待校准天线(9)的天线系数。

2.根据权利要求1所述的用于电磁兼容试验的辐射发射测量天线的现场校准方法，其特征在于，所述步骤“在校准试验室内，利用现有技术的校准方法测量得到参考天线(3)的天线系数”为：在校准试验室内，利用现有技术的三天线法测量得到参考天线(3)的天线系数。

3.根据权利要求1所述的用于电磁兼容试验的辐射发射测量天线的现场校准方法，其特征在于，参考天线(3)与传递天线(4)之间的插入损耗的计算公式为：

IL₀＝P_0-1-P_1-1

其中，IL₀为参考天线(3)与传递天线(4)之间的插入损耗；P_0-1为电磁波信号的功率的第一标准值；P_1-1为电磁波信号的功率的第一测量值。

4.根据权利要求1所述的用于电磁兼容试验的辐射发射测量天线的现场校准方法，其特征在于，待校准天线(9)与传递天线(4)之间的插入损耗的计算公式为：

IL₁＝P_0-2-P_1-2

其中，IL₁为待校准天线(9)与传递天线(4)之间的插入损耗；P_0-2为电磁波信号的功率的第二标准值；P_1-2为电磁波信号的功率的第二测量值。

5.根据权利要求1所述的用于电磁兼容试验的辐射发射测量天线的现场校准方法，其特征在于，待校准天线(9)的天线系数的计算公式为：

AF₁＝AF₀+IL₁-IL₀

其中，AF₁为待校准天线(9)的天线系数；AF₀为参考天线(3)的天线系数。