[发明专利]一种可控制的电流采样电路

说明书

技术领域

本发明涉及集成电路领域，特别涉及用于模拟集成电路中的可控制的实现多个值的电流采样电路。

背景技术

在集成电路的中，尤其是模拟集成电路中，为了检测大电流，因为功耗等的要求需要对电流进行采样后在进行检测。而通常电流的采样只能有一种采样值。

这样的方案主要存在以下缺陷：

因为只能采样一种电流，所以它所能检测的电流值只有一种，不便于实现多种电流值得采样检测。

发明内容

为了解决电流检测电路只能采样一种电流值，不便于实现多种电流值得采样检测的缺点。

本发明的解决方案如下：

一种可控制的电流采样电路，包括管脚Ps、分流功率NMOS管（3）、采样功率NMOS管M2（4）、采样功率NMOS管M3（5）、采样功率NMOS管M4（6）和采样电阻Rs（8），分流功率NMOS管（3）、采样功率NMOS管M2（4）、采样功率NMOS管M3（5）和采样功率NMOS管M4（6）的漏极接管脚Ps，分流功率NMOS管（3）和采样功率NMOS管M2（4）的栅极接电源Vin，采样电阻Rs（8）的一端接采样管M2（4）、M3（5）、M4（6）的源极，另一端接地。采样功率NMOS管M3（5）和采样功率NMOS管M4（6）的导通状态由信号分别被信号A和B控制；

所述电流采样电路还包括选择控制电路（7），选择控制电路（7）产生输出信号A和B；

所述选择控制电路（7）为数字逻辑电路；

本发明具有以下优点：

通过选择控制电路（7）可以实现不同的采样电流值。实现方式简单。

附图说明

图1为本发明的示意图。

具体实施方式

    如图1所示，M1、M2、M3、M4为功率NMOS管。M1为分流管，M2、M3、M4为采样管。其中M1、M2栅极接电源Vin，因此M1、M2是处于常导通状态，为固定接入状态。M3、M4的导通状态通过选择控制电路7进行控制。选择控制电路7的输出信号A、B分别接M3、M4的栅极。当M3、M4的栅极信号为高电平时M3、M4导通，为低电平时M3、M4截止。根据实际需要控制M3、M4的导通状态。管脚Ps 接功率MOS管M1、M2、M3、M4的漏极。采样电阻Rs一端接采样管M2、M3、M4的源极，另一端接地。

Ps 中有电流输入。因为M1、M2是处于常导通状态，Ps 中的电流流过M1、M2，流过M1的电流直接到地，而流过M2的电流流入采样电阻Rs，当由选择控制电路7进行控制的M3和/或M4导通时，Ps 中的电流流过它们后，流入采样电阻Rs。流入的电流在采样电阻Rs产生电压Vs后输出给后续电路。

其中M1、M2、M3、M4以一定的大小比例设置。所设置的比例值根据电路的具体情况而定。通过选择控制电路7对M3和/或M4导通状态的控制，可以通过M2、M3、M4得到不同的采样电流，因此通过采样电阻Rs也就可以产生不同的电压Vs。M2、M3、M4导通的越多，采样的电流越大，产生的采样电压Vs也就越大。最大时为M2、M3、M4全部导通。采样电流具体见下表1（信号A、B不同状态对应采样值）。 

选择控制电路7是普通的数字逻辑电路，在这里就不具体介绍。只要能根据需要分别产生信号A、B对M3、M4进行控制即可。