[发明专利]一种基于最小二乘法提高AD采集精度的方法在审

专利信息
申请号: 201310625155.X 申请日: 2013-11-28
公开(公告)号: CN103604984A 公开(公告)日: 2014-02-26
发明(设计)人: 邱耀明;陈公仆;吴旭亮;杨双俊 申请(专利权)人: 湖北三江航天红峰控制有限公司
主分类号: G01R19/25 分类号: G01R19/25
代理公司: 华中科技大学专利中心 42201 代理人: 朱仁玲
地址: 432000 湖*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 最小二乘法 提高 ad 采集 精度 方法
【权利要求书】:

1.一种基于最小二乘法提高AD采集精度的方法,其特征在于,包括下述步骤:

S1:按照通信协议进行数据通信,发送采集命令并接收AD采集数据;

S2:采用最小二乘法对AD采集数据进行线性拟合,获得零位偏差和修正斜率值,并保存各个AD通道的零位偏差和修正斜率值;

S3:根据标定所需要的标准采样电压值以及各个AD通道的零位偏差和修正斜率值分别对多路AD通道的零偏和系数进行标定。

2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,各个AD通道标定所需要的标准采样电压值不同。

3.如权利要求1或2所述的方法,其特征在于,各个AD通道的零位偏差和修正斜率值以txt格式文档保存。

4.如权利要求1所述的方法,其特征在于,在步骤S1之后且步骤S2之前还包括下述步骤:对所述采集数据进行滤波处理。

5.如权利要求1-4任一项所述的方法,其特征在于,在步骤S2中,根据公式k=n(ΣVinVout)-(ΣVin)(ΣVout)n(Σ(Vin2))-(ΣVin)2]]>d=(ΣVout)(Σ(Vin2))-(ΣVin)(ΣVinVout)n(Σ(Vin2))-(ΣVin)2]]>计算零位偏差和修正斜率值;k为斜率,d为零偏,n为AD采样样本个数,Vin为输入电压,Vout为AD采集电压。

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