[发明专利]半导体装置

说明书

相关申请的交叉引用

将2012年11月30日提交的日本专利申请No.2012-262826的公开内容（包括说明书、附图以及摘要）通过引用全部并入在本申请中。

技术领域

本发明涉及半导体装置，特别地，涉及具有检测由例如由于温度上升导致的信号延迟所引起的故障风险的功能的半导体装置。

背景技术

有时候，在半导体装置内的电路中可能出现任何故障，引起电源和地之间的低电阻的短路。结果，温度上升，引起内部电路中的信号传送的延迟。

为了检测这种信号延迟，在例如专利文献1（日本公开的未经审查的专利申请No.2008-256491）中描述的信号延迟检测电路包括一个或更多个延迟检测单元，每个延迟检测单元具有至少一个信号传播延迟电路（1）以及异或电路（exclusive OR circuit）（C），该异或电路接收从信号传播延迟电路（1）输出的信号（B）和经过从信号传播延迟电路（1）的输入段分岔出来的信号传送路径的信号C并且输出信号。使用从异或电路（C）输出的数字信号，确定信号传播延迟电路（1）是否表现异常。

[现有技术文献]

[专利文献]

[专利文献1]日本公开的未经审查的专利申请No.2008-256491

发明内容

然而，在专利文献1中，存在如下的问题，即如果作为信号延迟检测电路的组件的异或电路（C）本身未能正确地操作，则不能准确地检测信号延迟。

此外，在专利文献1中，没有公开用于检测两个触发器之间的信号延迟的配置。

根据在本说明书中的以下描述和附图，其它问题和新颖的特征将变得清晰。

根据本发明的一个实施例，一种故障预先检测电路包括：延迟元件，用于使与设置在第一触发器的后续级中的第二触发器的数据输入端子并行输入的输入数据延迟；第三触发器，用于接收延迟元件的输出；以及比较器，用于将第二触发器的输出与第三触发器的输出进行比较。在用于测试所述故障预先检测电路的操作的操作测试模式中，第一测试数据和第二测试数据被输入到所述故障预先检测电路，并且第二测试数据被输入到延迟元件。在所述操作测试模式中比较器将第一测试数据和第三触发器的输出进行比较。

根据本发明的一个实施例，可以检测用于检测信号延迟的电路本身的失效，因此，可以准确地检测由过热等引起的信号延迟。

附图说明

图1是描绘第一实施例的微型计算机的一部分的配置的图。

图2是用于说明通常操作模式中的正常操作的图。

图3是用于说明在通常操作模式中预先检测到故障时的操作的图。

图4是描绘第一实施例的微型计算机的配置的图。

图5是表示由微型计算机1执行的故障预先检测过程的流程图。

图6是表示图5中的步骤S202中的用于检测故障预先检测电路本身的失效的过程的流程图。

图7是用于说明在测试操作模式中确定故障预先检测电路是否失效的方式的图。

图8是用于说明在测试操作模式中确定故障预先检测电路是否失效的方式的图。

图9是用于说明在测试操作模式中确定故障预先检测电路是否失效的方式的图。

图10是用于说明在测试操作模式中确定故障预先检测电路是否失效的方式的图。

图11是描绘第二实施例的微型计算机的一部分的配置的图。

图12是用于说明通常操作模式中的正常操作的图。

图13是用于说明在通常操作模式中预先检测到故障时的操作的示例的图。

图14是用于说明在通常操作模式中预先检测到故障时的操作的另一个示例的图。

图15是用于说明在通常操作模式中预先检测到故障时的操作的又一个示例的图。

图16是描绘第三实施例的微型计算机的配置的图。

图17是描绘第四实施例的微型计算机的配置的图。

具体实施方式

在下文中，将通过附图描述本发明的实施例。

第一实施例

图1是描绘第一实施例的微型计算机的一部分的配置的图。

参考图1，微型计算机具有用作功能电路的触发器FF0、逻辑电路11、触发器FF1、以及触发器FF2。