[发明专利]基于非统一存储器访问架构的存储器检测系统及其方法在审
| 申请号： | 201310628139.6 | 申请日： | 2013-11-28 |
| 公开（公告）号： | CN104681101A | 公开（公告）日： | 2015-06-03 |
| 发明（设计）人： | 王志 | 申请（专利权）人： | 英业达科技有限公司;英业达股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 北京国昊天诚知识产权代理有限公司 11315 | 代理人： | 许志勇 |
| 地址： | 201114 上海市闵*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 基于 统一 存储器 访问 架构 检测 系统 及其 方法 | ||
1.一种基于非统一存储器访问架构的存储器检测系统，其特征在于，包含：
一对应模块，用以取得每一个中央处理器与物理存储器之间的对应关系；
一范围模块，用以取得每一个物理存储器的物理存储器范围；
一指定模块，用以依据所述中央处理器与物理存储器的对应关系指定所述中央处理器访问的物理存储器范围；
一检测模块，用以提供所述中央处理器分别进行各自物理存储器范围的存储器检测；及
一记录模块，用以记录存储器的检测结果。
2.如权利要求1所述的基于非统一存储器访问架构的存储器检测系统，其特征在于，所述对应模块是通过系统管理基本输入输出系统以取得每一个中央处理器与物理存储器之间的对应关系。
3.如权利要求1所述的基于非统一存储器访问架构的存储器检测系统，其特征在于，所述范围模块是通过高级配置和电源管理接口中的静态资源关联表以取得每一个物理存储器的物理存储器范围。
4.如权利要求1所述的基于非统一存储器访问架构的存储器检测系统，其特征在于，所述检测模块是采用高速缓冲存储器方式进行存储器检测。
5.如权利要求1所述的基于非统一存储器访问架构的存储器检测系统，其特征在于，所述基于非统一存储器访问架构的存储器检测更包含一显示模块，用以显示存储器的检测结果。
6.一种基于非统一存储器访问架构的存储器检测方法，其特征在于，包含下列步骤：
取得每一个中央处理器与物理存储器之间的对应关系；
取得每一个物理存储器的物理存储器范围；
依据所述中央处理器与物理存储器的对应关系指定所述中央处理器访问的物理存储器范围；
提供所述中央处理器分别进行各自物理存储器范围的存储器检测；及
记录存储器的检测结果。
7.如权利要求6所述的基于非统一存储器访问架构的存储器检测方法，其特征在于，所述取得每一个中央处理器与物理存储器之间的对应关系的步骤是通过系统管理基本输入输出系统以取得每一个中央处理器与物理存储器之间的对应关系。
8.如权利要求6所述的基于非统一存储器访问架构的存储器检测方法，其特征在于，所述取得每一个物理存储器的物理存储器范围的步骤是通过高级配置和电源管理接口中的静态资源关联表以取得每一个物理存储器的物理存储器范围。
9.如权利要求6所述的基于非统一存储器访问架构的存储器检测方法，其特征在于，所述中央处理器分别进行各自物理存储器范围的存储器检测的步骤是采用高速缓冲存储器方式进行存储器检测。
10.如权利要求6所述的基于非统一存储器访问架构的存储器检测方法，其特征在于，所述基于非统一存储器访问架构的存储器检测方法更包含显示存储器的检测结果的步骤。
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