[发明专利]断路器分合闸时行程-时间波形预处理方法与装置

权利要求书

1.断路器分合闸时行程-时间波形预处理方法，其特征在于，至少包括第一次拟合的步骤：

在断路器分合闸过程中以设定采样周期进行采样，得到一系列采样点（（t₁，x₁），（t₂，x₂），…，（t_n，x_n））；

对每个周期的波形求导，得到各周期的导数值λ₁，λ₂，…，λ_n-1，对于每个采样周期，判断其后的采用点是否为坏点：对于任一采样周期k，判断|λk-（λ₁+…+λ_m）/m|≥Δ是否成立，若成立则判断采样周期k之后的采样点（（t_k+1，x_k+1））为坏点，并进行剔除；Δ为设定的第一阈值，n为采样点数；

用最小二乘法对上述剔除坏点之后的采样点进行第一次拟合，得到断路器第一次分合闸波形曲线。

2.根据权利要求1所述的断路器分合闸时行程-时间波形预处理方法，其特征在于，所述断路器分合闸时行程-时间波形预处理方法还包括第二次拟合的步骤：

根据第一次分合闸波形曲线得到各采样时刻的行程拟合值，将各采样时刻的原始采样点值与对应时刻的行程拟合值进行比较，若它们之间的差值的绝对值大于设定的第二阈值，则进行第二次剔除，剔除对应采样点；

用最小二乘法对第二次剔除坏点之后的采样点进行第二次拟合，得到最终的断路器分合闸波形曲线。

3.断路器分合闸时行程-时间波形预处理装置，其特征在于，至少包括第一次拟合的模块：

在断路器分合闸过程中以设定采样周期进行采样，得到一系列采样点（（t₁，x₁），（t₂，x₂），…，（t_n，x_n））；

对每个周期的波形求导，得到各周期的导数值λ₁，λ₂，…，λ_n-1，对于每个采样周期，判断其后的采用点是否为坏点：对于任一采样周期k，判断|λk-（λ₁+…+λ_m）/m|≥Δ是否成立，若成立则判断采样周期k之后的采样点（（t_k+1，x_k+1））为坏点，并进行剔除；Δ为设定的第一阈值，n为采样点数；

用最小二乘法对上述剔除坏点之后的采样点进行第一次拟合，得到断路器第一次分合闸波形曲线。

4.根据权利要求1所述的断路器分合闸时行程-时间波形预处理装置，其特征在于，所述断路器分合闸时行程-时间波形预处理方法还包括第二次拟合的模块：

根据第一次分合闸波形曲线得到各采样时刻的行程拟合值，将各采样时刻的原始采样点值与对应时刻的行程拟合值进行比较，若它们之间的差值的绝对值大于设定的第二阈值，则进行第二次剔除，剔除对应采样点；

用最小二乘法对第二次剔除坏点之后的采样点进行第二次拟合，得到最终的断路器分合闸波形曲线。