[发明专利]一种提高XRD实验精度的方法

权利要求书

1.一种提高XRD实验精度的方法，其特征在于：包括如下步骤：

步骤1：将待测钢试样进行处理至表面平整光洁；

步骤2：利用XRD仪器对所述待测钢试样进行XRD实验，获得所述待测钢试样的XRD实验图谱以及实验数据，所述XRD实验选用步进扫描方式，所述步进扫描方式的扫描速度范围为：1(°)/min～2(°)/min，所述步进扫描方式的时间常数为：1s～1.5s，所述步进扫描方式的角度间隔为0.02°；

利用所述XRD仪器的实验方法为利用X射线衍射法对所述待测钢试样进行非破坏分析，改变X射线对待测钢试样的入射角度和衍射角度，同时所述XRD仪器自动检测并记录衍射X射线的强度，通过所述XRD仪器的数据转换和分析系统得到所述待测钢试样的X射线衍射图谱，对所述X射线衍射图谱中的数据进行所述XRD仪器的分析系统的数据处理后得到所述实验数据；

步骤3：对步骤2所得实验数据进行精修，精修结束后，即得到实验结果和误差。

2.根据权利要求1所述的提高XRD实验精度的方法，其特征在于：所述步骤2中，所述步进扫描方式的扫描速度为1(°)/min。

3.根据权利要求1所述的提高XRD实验精度的方法，其特征在于：所述步骤2中，所述步进扫描方式的时间常数为1s。

4.根据权利要求1所述的提高XRD实验精度的方法，其特征在于：所述步骤2中，所述数据处理包括将所述X射线衍射图谱中的数据平滑化、背景扣除、Kα1-Kα2剥离、峰检索和校正系统误差。

5.根据权利要求1所述的提高XRD实验精度的方法，其特征在于：所述步骤2中，所述实验数据包括衍射角2θ、衍射峰强度和衍射峰积分强度。

6.根据权利要求1所述的提高XRD实验精度的方法，其特征在于：所述步骤3中，所述精修为利用MAUD软件对实验数据进行结构精修，根据物相的晶体结构得到计算图谱，然后与X射线衍射图谱比较，修正物相的晶体结构，然后再与X射线衍射图谱比较，逐步缩小计算图谱与X射线衍射图谱之间的差别，最终得到最终实验结果和误差。