[发明专利]影像信息检测方法

说明书

技术领域

本发明是关于一种影像信息检测方法。

背景技术

随着高解析度的发展、工艺技术的改良以及工业生产对于自动化的需求，传统使用人力目检（Manual Visual Inspection,MVI）的检测方式渐渐产生局限，通常只能检查元件漏装、型号分类、以及部分明显失误。由于易受到人为主客观因素的影响，其具有较高的不稳定度、困难度以及成本支出。因此，自动光学检测（Automated Optical Inspection,AOI）设备的发明应运而生。

自动光学检测是近年来相当具有市场潜力的检测方式，其基本工作原理主要是经由影像感测器获得被检测物的图形信息，接着通过计算机内建软体经处理计算以进行比对、分析以及判断。由此可知，自动光学检测不但减少了人力目检的错误率，更大幅节省时间及人力成本。此外，自动光学检测设备还具有较高的稳定度以及操作弹性等优点。自动光学检测的传统流程，其主要是将生产线上流动的产品（如：印刷电路板）予以编号，各编号即定义成一个相对的档案。此档案将会纪录该印刷电路板的检查结果及所有不良的明细内容，供作数据分析。而后始依已编辑完作的检查程序进行检测、判定其为良品或不良品，并伴随判定的结果，将产品送至下游机器作适当的处理。

上述的检测作业若配置在生产线上进行，可以保证产品的受检率不会有漏检的机会。但由于自动光学检测是使用如电荷耦合元件（Charge-coupled Device,CCD）照相机在相对移动的产品上撷取影像，再以复杂且精密的影像切割、分析、演算去判定产品上各个特征点的良率。由于作业上牵涉到精准的机构位移、光线处理、照相机取像时机等控制层面及十分庞大的数字化数据处理。再者，应用自动光学检测进行产线上的产品检测时，产品上的图像即成为动态影像，因此需使用机械定位、人工定位，以及图案元素的比对定位，而造成检测速度减缓而降低了生产效率。在现有科技的限制下，会容易出现误差较大、偏移频繁出现、校正演算法工作量较大等问题，进而导致效率降低和定位偏差，使后续检测、识别等处理带来风险和误判。

因此，如何提供一种影像信息检测方法，提高对于动态图形信息的定位精准度及检测效率，已成为重要课题之一。

发明内容

有鉴于上述课题，本发明的目的为提供一种影像信息检测方法，提高对于动态图形信息的定位精准度及检测效率。

为达上述目的，依据本发明的一种影像信息检测方法包括以下步骤：于一标准样本选取一匹配数据；撷取一待测样本的一连续影像；自连续影像取得数个帧待测影像；选取各待测影像的一特征数据；以及比对匹配数据以及各特征数据，以取得一匹配率。

在一实施例中，标准样本包含数个图形信息，且匹配数据包含标准样本的至少部分的图形信息。

在一实施例中，图形信息包括坐标、形状、亮度、或颜色。

在一实施例中，匹配数据与扣除匹配数据的标准样本剩余的部分并无实质上相同的区块。

在一实施例中，连续影像是以30毫秒的周期形成待测影像。

在一实施例中，特征数据包括匹配数据。

在一实施例中，于选取各待测影像的一特征数据之后，更包括以下步骤：迭加已选取特征数据的待测影像。

在一实施例中，更包括以下步骤：当匹配率大于一预设值时，则利用匹配数据校正待测样本。

在一实施例中，其是应用于自动光学检测（Automated Optical Inspection,AOI）。

承上所述，本发明的影像信息检测方法，通过将生产线上流动的待测样本的连续影像分解为待测影像，并于其内选取出具有特征的局部特征数据，以减少比对单元及处理单元的运算量，且可有效地将待测样本与标准样本的偏差校正并缩小在一定范围内。相对于利用连续影像进行动态的图形信息的定位及检测，本发明利用静态的待测影像进行图形信息的匹配，能够使搜索效率提高，并获得更精准的定位结果。

相较于已知针对动态图形信息须通过机械定位、人工定位以及图元的比对定位，所带来的误差较大、偏移频繁出现、校正演算法工作量较大等问题，本发明的影像信息检测方法可有效克服已知的检测方法所产生的定位偏差，以提升后续生产线上的检测、识别及整体产品可信度的优势。

附图说明

图1为本发明较佳实施例的一种影像信息检测方法的步骤流程图。

图2为应用图1的影像信息检测方法的自动光学检测系统的电路方块图。

图3A～3E分别为应用图1的影像信息检测方法的步骤示意图。

符号说明：