[发明专利]PCB曝光能量测试治具及其制作方法和应用无效
申请号: | 201310641731.X | 申请日: | 2013-12-03 |
公开(公告)号: | CN103698981A | 公开(公告)日: | 2014-04-02 |
发明(设计)人: | 朱磊;宋春雷;余钟振 | 申请(专利权)人: | 昆山鼎鑫电子有限公司 |
主分类号: | G03F7/20 | 分类号: | G03F7/20 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 陆花 |
地址: | 215316 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | pcb 曝光 能量 测试 及其 制作方法 应用 | ||
技术领域
本发明涉及半导体领域,尤其涉及一种PCB曝光能量测试治具及其制作方法和应用。
背景技术
在现今的线路板行业中,每次曝光生产前都需要测试能量格数,即曝光的强度,依此来判定相应产品曝光时需要设定的能量。目前,通常的做法如图1a~1d所示,第一步,是将曝光尺3和用于遮光的白纸2分别贴附于PCB板1上,如图1a所示;第二步,进行第一次曝光,第一次曝光的结果如图1b所示,即曝光尺3的下方产生第一次曝光能量格数4,遮光白纸2的下方为未感光区域5;第三步,如图1c所示,用白纸2将第一次曝光能量格数4覆盖,防止再次感光,并将曝光尺3放置于未感光区域5处;第四步,调整曝光参数进行第二次曝光,第二次曝光的结果如图1d所示,即所述PCB板上呈现出第一次曝光能量格数4和第二次曝光能量格数6,根据上述的两次曝光的结果,判定相应产品曝光时需要设定的能量,当然,也可以准备多张白纸2以完成多次曝光。
上述方式中,每次曝光都需要对白纸2和曝光尺3的位置进行调整,费时费力,工作效率较低。
发明内容
本发明提供一种PCB曝光能量测试治具及其制作方法和应用,以解决现有PCB曝光能量测试过程费时费力的问题。
为解决上述技术问题,本发明提供了一种PCB曝光能量测试治具,包括:黑色底片和曝光尺,所述曝光尺嵌于所述黑色底片的中央,所述曝光尺沿长度方向的两端用遮光胶带固定于所述黑色底片上。
较佳地,所述黑色底片的长度尺寸为12.5~30cm,宽度尺寸为25~27cm。
本发明还提供了上述PCB曝光能量测试治具的制作方法,其包括以下步骤:
S11:取黑色底片;
S12:在所述黑色底片的中央制作一个与所述曝光尺的尺寸相匹配的长条形开口;
S13:将所述曝光尺嵌入所述长条形开口内,并将曝光尺沿长度方向的两端用遮光胶带固定于所述黑色底片上。
本发明还提供了上述PCB曝光能量测试治具的应用,其包括以下步骤:
S21:将所述的PCB曝光能量测试治具放置于PCB板上,进行第一次曝光;
S22:沿所述曝光尺的宽度方向移动所述PCB曝光能量测试治具,进行下一次曝光;
S23:重复步骤S22,直至曝光测试完成。
本发明提供的PCB曝光能量测试治具及其制作方法和应用,其结构包括:黑色底片和曝光尺,所述曝光尺嵌于所述黑色底片的中央,所述曝光尺沿长度方向的两端用遮光胶带固定于所述黑色底片上。本发明通过将所述曝光尺固定于所述黑色底片上,改变曝光尺在PCB板上的位置进行下次曝光时,无需重复粘贴曝光尺,且无需使用遮光白纸进行遮盖,从而节约人力物力,提高生产效率。
附图说明
图1a至1d为现有的PCB曝光能量测试的步骤流程图;
图2为本发明一具体实施方式的PCB曝光能量测试治具的剖视图;
图3为本发明一具体实施方式的PCB曝光能量测试治具的制作方法流程图;
图4a至4c为本发明一具体实施方式的PCB曝光能量测试治具的制作过程图;
图5a至5b为本发明一具体实施方式的PCB曝光能量测试治具应用于曝光测试时的步骤流程图。
图1a至1d中:1-PCB板、2-白纸、3-曝光尺、4-第一次曝光能量格数、5-未感光区域、6-第二次曝光能量格数;
图2至5b中:10-PCB板、20-PCB曝光能量测试治具、21-黑色底片、22-长条形开口、23-曝光尺、24-遮光胶带。
具体实施方式
为了更详尽的表述上述发明的技术方案,以下列举出具体的实施例来证明技术效果;需要强调的是,这些实施例用于说明本发明而不限于限制本发明的范围。
请重点参考图2,并结合图3至5b,本发明提供的PCB曝光能量测试治具20,包括:黑色底片21和曝光尺23,所述曝光尺23嵌于所述黑色底片21的中央,所述曝光尺23沿长度方向(即图4c中的Y方向)的两端用遮光胶带24固定于所述黑色底片21上。本发明通过将所述曝光尺23固定于所述黑色底片21上,改变曝光尺23在PCB板10上的位置进行下次曝光时,无需重复粘贴曝光尺23,且无需使用遮光白纸进行遮盖,从而节约人力物力,提高生产效率。
较佳地,所述黑色底片21的长度尺寸为12.5~30cm,宽度尺寸为25~27cm。
请重点参考图3和图4a至4c,本发明还提供了如上所述的PCB曝光能量测试治具20的制作方法,其包括以下步骤:
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