[发明专利]一种测量和评估有气隙磁元件绕组交流电阻的方法有效

专利信息
申请号: 201310641871.7 申请日: 2013-12-04
公开(公告)号: CN103630746A 公开(公告)日: 2014-03-12
发明(设计)人: 陈为;叶建盈;汪晶慧 申请(专利权)人: 福州大学
主分类号: G01R27/02 分类号: G01R27/02
代理公司: 福州元创专利商标代理有限公司 35100 代理人: 蔡学俊
地址: 350108 福建省福州市*** 国省代码: 福建;35
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摘要:
搜索关键词: 一种 测量 评估 有气 元件 绕组 交流 电阻 方法
【权利要求书】:

1.一种测量和评估有气隙磁元件励磁绕组交流电阻的方法,其特征在于:所述有气隙磁元件由磁芯、各气隙和励磁绕组组成;将所述有气隙磁元件的各气隙部分去除,形成一个无气隙磁元件,沿所述各气隙位置绕制绕组以形成气隙等效绕组,并进行短路或连接,以代替各气隙的作用,测量所述无气隙磁元件励磁绕组两端的交流电阻,并从所述交流电阻中扣除各气隙等效绕组折算反射到励磁绕组侧的电阻,从而得到所述有气隙磁元件励磁绕组的交流电阻,更进一步根据励磁绕组的工作电流得到励磁绕组损耗。

2.根据权利要求1所述的一种测量和评估有气隙磁元件绕组交流电阻的方法,其特征在于:该方法能用于测量不同气隙设计参数的交流电阻和评估不同气隙设计方案对绕组交流电阻的影响。

3.根据权利要求1所述的一种测量和评估有气隙磁元件绕组交流电阻的方法,其特征在于:所述各气隙等效绕组位于各气隙的位置,且其宽度与有气隙磁元件的对应的各气隙宽度相同。

4. 根据权利要求1所述的一种测量和评估有气隙磁元件绕组交流电阻的方法,其特征在于:气隙等效绕组采用相对于测量频率下涡流透入深度来说线径尽量细的导线或厘兹线绕制,以保证气隙等效绕组的交流电阻基本等于其直流电阻。

5. 根据权利要求1所述的一种测量和评估有气隙磁元件绕组交流电阻的方法,其特征在于:所述短路的方式是将各气隙等效绕组短路,实现对励磁绕组交流电阻的测量。

6.根据权利要求1所述的一种测量和评估有气隙磁元件绕组交流电阻的方法,其特征在于:所述短路的方式是将各气隙等效绕组的异名端连接串联起来之后短路,实现对励磁绕组交流电阻的测量,其中各气隙等效绕组的匝数比例等于各气隙长度的比例。

7. 根据权利要求1所述的一种测量和评估有气隙磁元件绕组交流电阻的方法,其特征在于:所述连接的方式是将磁元件励磁绕组与气隙等效绕组同名端连接串联,实现对励磁绕组交流电阻的测量,各气隙等效绕组的总匝数等于励磁绕组的匝数。

8. 根据权利要求1所述的一种测量和评估有气隙磁元件绕组交流电阻的方法,其特征在于:所述连接的方式是将磁元件各气隙等效绕组异名端连接串联组成一总的气隙等效绕组 ,再将该总的气隙等效绕组与 励磁绕组同名端连接串联,实现对励磁绕组交流电阻的测量,其中各气隙等效绕组的总匝数等于励磁绕组的匝数,且各气隙等效绕组的匝数比例等于各气隙长度的比例。

9. 根据权利要求1所述的一种测量和评估有气隙磁元件绕组交流电阻的方法,其特征在于:采用两端交流阻抗测量仪器,测量所述被测磁元件励磁绕组端口的交流电阻                                               ,进而根据算出励磁绕组电阻,其中为气隙等效绕组的直流电阻,为励磁绕组与气隙等效绕组的匝数比值,进一步通过公式计算获得励磁绕组的交流损耗。

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