[发明专利]一种半导体封装用绷片装置无效
申请号: | 201310643377.4 | 申请日: | 2013-12-05 |
公开(公告)号: | CN103617959A | 公开(公告)日: | 2014-03-05 |
发明(设计)人: | 吴斌 | 申请(专利权)人: | 南通华隆微电子有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 226371 江苏省南通市*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 半导体 封装 用绷片 装置 | ||
1.一种半导体封装用绷片装置,其特征在于,包括:
绷片底座,所述绷片底座内部设置有第一空腔,所述绷片底座上设置有绷片承载凸环,所述绷片承载凸环内部设置有第二空腔,所述第二空腔的直径与所述第一空腔的直径相同,所述绷片承载凸环的外径小于所述绷片底座的外径,所述绷片承载凸环用于支撑划片环;
下压盖板,所述下压盖板通过铰链和所述绷片底座相连,所述下压盖板和所述绷片底座相配合,所述下压盖板内部设置有第三空腔,所述第三空腔的直径大于所述承载部凸环的外径,所述下压盖板通过所述第三空腔套设在所述绷片承载凸环上。
2.根据权利要求1所述的半导体封装用绷片装置,其特征在于,还包括分别与所述绷片底座和所述下压盖板相配合的多个锁扣装置,用于将所述下压盖板锁紧在所述绷片底座上。
3.根据权利要求1所述的半导体封装用绷片装置,其特征在于,所述绷片底座设置有互相对称且向外突出的两个外延部。
4.根据权利要求2所述的半导体封装用绷片装置,其特征在于,多个所述锁扣装置包括左右对称设置的两个锁扣装置。
5.根据权利要求4所述的半导体封装用绷片装置,其特征在于,所述锁扣装置包括相互配合的锁环和卡扣,所述锁环设置在所述绷片底座的外延部上,所述卡扣设置在所述下压盖板的相应位置上。
6.根据权利要求1所述的半导体封装用绷片装置,其特征在于,所述下压盖板内部设置的第三空腔的直径大于6英寸。
7.根据权利要求1所述的半导体封装用绷片装置,其特征在于,所述下压盖板为金属下压盖板。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造