[发明专利]测试测量中多维十字定标法有效

专利信息
申请号: 201310646514.X 申请日: 2013-12-04
公开(公告)号: CN103632059B 公开(公告)日: 2017-01-04
发明(设计)人: 杨文举;韩立群 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第五十研究所
主分类号: G06F19/00 分类号: G06F19/00
代理公司: 上海汉声知识产权代理有限公司31236 代理人: 郭国中
地址: 200063 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 测试 测量 多维 十字 定标
【说明书】:

技术领域

发明属于测试测量领域,尤其涉及用于被测物理量受多个因素影响的定标,具体涉及测试测量中多维十字定标法。

背景技术

在测试测量领域中,被测物理量常受单个或多个因素的影响,并且与有的因素成非线性关系。目前常采用折线段法或查表法定标,但是当影响测量的因素越多,准确度要求越高时,技术实现难度越大,测量数据越庞大,不易工程实现。为了便于说明传统的定标方法和本文发明的定标方法,列举以下的测量案例:

(1)测量案例1:被测量为y,直接参数为x,影响直接参数的因素只用一种因素a,并且成非线性关系。

测量案例1为一维情况。按照测量精度要求,首先确定因素a下的测量点数(测量精度要求越高,划分的越细,测量的点数越多,下同),假定为n个测量点,再利用标准Y值,在因素a的n种情况下(a1,a2,a3……an),测得对应的X,X为一维数组,即X[]={Xa1,Xa2,Xa3……Xan},用图形直观的表示X是一条线段。

采用查表法时,直接根据a的实际值a’,选择X值赋值给x,再根据x与y的关系式,计算出被测量y。

查表法赋值如表1。

表1一维查表法赋值表

aa1a2a3……an-1anXXa1Xa2Xa3……Xan-1Xan

查表法按条件赋值如下,为一维关系:

x=Xa1(a1≤a<a2)

x=Xa2(a2≤a<a3)

……

x=Xan-1(an-1≤a≤an)

y=f(x)

采用折线段方法时,利用两点法确定n-1个一次函数,x为因变量,a为自变量,测量时,根据a的实际值a’,选择不同的一次函数,计算出x,再根据x与y的关系式,计算出被测量y。

折线段方法按条件选择公式如下:

x=(Xa2-Xa1)/(a2-a1)×(a-a1)+Xa1(a1≤a<a2)

x=(Xa3–Xa2)/(a3–a2)×(a-a2)+Xa2(a2≤a<a3)

……

x=(Xan–Xan-1)/(an–an-1)×(a-an-1)+Xan-1(an-1≤a≤an)

y=f(x)

(2)测量案例2:被测量为y,直接参数为x,影响直接参数的因素有两种a和b,并且成非线性关系。

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