[发明专利]基于GaN衬底CVD外延生长石墨烯的化学腐蚀转移方法有效
申请号: | 201310647163.4 | 申请日: | 2013-12-03 |
公开(公告)号: | CN103606514A | 公开(公告)日: | 2014-02-26 |
发明(设计)人: | 王东;闫景东;宁静;韩砀;柴正;张进成;郝跃 | 申请(专利权)人: | 西安电子科技大学 |
主分类号: | H01L21/205 | 分类号: | H01L21/205;C30B25/02;C30B25/18;C30B29/02 |
代理公司: | 陕西电子工业专利中心 61205 | 代理人: | 王品华;朱红星 |
地址: | 710071*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 gan 衬底 cvd 外延 生长 石墨 化学 腐蚀 转移 方法 | ||
1.一种基于GaN衬底CVD外延生长石墨烯的化学腐蚀转移方法,包括如下步骤:
(1)将a面碳化硅6H-SiC衬底置于金属有机物化学气相淀积MOCVD反应室中,向反应室通入镓源与氨气的混合气体,镓源流量为50-200μmol/min,氨气流量为1000-3000sccm,持续0.5-1小时,生长出厚度为1-3μm的a面GaN衬底;
(2)将反应室抽真空,在保证气压不高于10-6Torr的条件下,在GaN衬底上电子束蒸发沉积厚度为1-2μm的Cu薄膜;
(3)向反应室通入流量为1~20sccm的H2,升高反应室内温度至900~1000℃,对沉积的Cu薄膜进行热退火,退火时间为20~60min;
(4)向反应室通入流量为20~200sccm的H2和流量为2~20sccm的CH4,通过化学气象淀积CVD生长石墨烯10~20min;
(5)在反应室自然降温到室温后,取出生长样品,在石墨烯表面旋涂聚甲基丙烯酸甲酯PMMA,形成SiC衬底—GaN—Cu薄膜—石墨烯—PMMA的叠层结构样品;
(6)对所述SiC衬底—GaN—Cu薄膜—石墨烯—PMMA的叠层结构样品进行风干,并将风干后的样品放入浓度为0.5g/ml的氢氧化钾溶液中,通过腐蚀去除掉样品中的GaN层,使SiC衬底从叠层结构中剥离,形成Cu薄膜—石墨烯—PMMA的叠层样品;
(7)从氢氧化钾溶液中取出Cu薄膜—石墨烯—PMMA的叠层样品,使其PMMA面漂浮在浓度为50g/L-70g/L的(NH4)3(S2O4)2水溶液液面上,通过腐蚀去除掉样品中的最下层Cu薄膜,形成石墨烯—PMMA的叠层样品;
(8)将石墨烯—PMMA叠层样品从(NH4)3(S2O4)2水溶液中捞起,置于绝缘衬底上风干,再在120℃条件下加热30min,得到绝缘衬底—石墨烯—PMMA的叠层样品;
(9)将绝缘衬底—石墨烯—PMMA的叠层样品自然降温到室温,再放入丙酮中浸泡,利用丙酮去除掉样品表面的PMMA,形成绝缘衬底—石墨烯样品,实现石墨烯向绝缘衬底的转移;
(10)用无水乙醇漂洗绝缘衬底—石墨烯样品,最后用纯氮气吹干,得到干净的绝缘衬底石墨烯。
2.根据权利要求1所述基于GaN衬底CVD外延生长石墨烯的化学腐蚀转移方法,其中步骤(4)所述的通过化学气象淀积CVD生长石墨烯,按如下工艺进行:
(4a)在H2的流量为20~200sccm的条件下,加热反应室到生长温度950~1100℃;
(4b)保持H2流量不变,向反应室通入流量为2~20sccm的CH4,H2和CH4的流量比例为10:1~2:1。
3.根据权利要求1所述基于GaN衬底CVD外延生长石墨烯的化学腐蚀转移方法,其中步骤(5)所述的在石墨烯表面旋涂聚甲基丙烯酸甲酯PMMA,按如下步骤进行:
(5a)用滴管在石墨烯表面滴满PMMA,每平方厘米石墨烯上PMMA不超过0.1ml;
(5b)将滴满PMMA的样品放入旋转甩胶台旋转,设定前10s转速为30r/min,后60s转速为300r/min,使PMMA旋涂均匀。
4.根据权利要求1所述基于GaN衬底CVD外延生长石墨烯的化学腐蚀转移方法,其中所述步骤(8)的绝缘衬底,包括硅衬底、二氧化硅衬底、蓝宝石衬底以及玻璃衬底。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造