[发明专利]光子计数探测器及读出电路在审
申请号: | 201310651552.4 | 申请日: | 2013-12-04 |
公开(公告)号: | CN103860184A | 公开(公告)日: | 2014-06-18 |
发明(设计)人: | 尹大健;金昌桢 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | A61B6/00 | 分类号: | A61B6/00;G01T1/29 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 金玉洁 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光子 计数 探测器 读出 电路 | ||
1.一种用于探测在多能量辐射中包括的光子的光子计数探测器,该光子计数探测器包括:
光子入射到其上的像素区域;以及
偏置电路,其提供偏置电压或电流,
其中,所述偏置电路被布置在所述像素区域中。
2.根据权利要求1所述的光子计数探测器,其中,所述像素区域包括多个像素,
其中,所述偏置电路被包括在所述多个像素中的每一个中。
3.根据权利要求1所述的光子计数探测器,其中,所述像素区域包括多个像素,
其中,所述偏置电路被包括在所述多个像素中的至少一个中。
4.根据权利要求1所述的光子计数探测器,其中,所述像素区域被分成M×N像素的单元,
其中,在每个M×N像素的单元中包括一个偏置电路。
5.根据权利要求4所述的光子计数探测器,其中,在每个M×N像素的单元中包括的偏置电路将偏置电压提供给相应单元中的所有M×N像素。
6.根据权利要求1所述的光子计数探测器,其中,所述像素区域被分成2×2像素的单元,
其中,在每个2×2像素的单元中包括一个偏置电路,
其中,在每个2×2像素的单元中包括的偏置电路将偏置电压提供给相应单元中的所述2×2像素。
7.根据权利要求1所述的光子计数探测器,其中,在两个像素中包括一个偏置电路,
其中,该偏置电路将偏置电压提供给所述两个像素。
8.根据权利要求1所述的光子计数探测器,其中,所述像素区域包括多个像素,
其中,所述多个像素之中的相邻像素共享一个偏置电路。
9.一种用于探测在多能量辐射中包括的光子的读出电路,该读出电路包括:
积分器,其累计从传感器输入的电信号;
比较器,其将累计的电信号与阈值进行比较;
计数器,其基于从所述比较器输出的比较结果对光子进行计数;以及
偏置电路,其将偏置电压提供给所述积分器和所述比较器。
10.根据权利要求9所述的读出电路,其中,所述积分器包括放大器,
其中,所述偏置电路将偏置电压提供给所述放大器。
11.根据权利要求9所述的读出电路,其中,所述比较器包括多个比较器,
其中,所述偏置电路将偏置电压提供给所述多个比较器。
12.根据权利要求9所述的读出电路,其中,所述偏置电路将偏置电压提供给相邻的读出电路。
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