[发明专利]一种评估存储系统性能的方法和设备有效

专利信息
申请号: 201310653099.0 申请日: 2013-12-05
公开(公告)号: CN103646670A 公开(公告)日: 2014-03-19
发明(设计)人: 李松涛;李凤凤;谢震宇 申请(专利权)人: 华为技术有限公司
主分类号: G11C29/56 分类号: G11C29/56
代理公司: 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 代理人: 申健
地址: 518129 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 评估 存储系统 性能 方法 设备
【权利要求书】:

1.一种评估存储系统性能的方法,其特征在于,包括:

评估预测设备获取所述存储系统当前时刻的系统评估参数和运行场景标识,其中,所述系统评估参数用于表示所述存储系统的运行性能;

确定所述运行场景标识对应的预测算法;

根据所述当前时刻的系统评估参数通过所述预测算法得到所述存储系统下一时刻的预测系统评估参数。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述系统评估参数包括系统评估分值,在所述获取存储系统当前时刻的系统评估参数和运行场景标识之前还包括:

在所述存储系统的当前时间段内,按照预设时间间隔获取n个运行指标,其中,n为正整数;

判断所述当前时间段内的第q个运行指标是否处于预测区间范围之内,若是,则使q=q+1;若否,则修改所述存储系统的评估分值,并使q=q+1,其中,q的初始值为1且q≤n+1,所述评估分值为表示所述存储系统的运行性能的指标,所述预测区间范围是根据所述存储系统在历史时间段的运行指标得到的;

当q=n+1时,得到所述存储系统当前时刻的系统评估分值。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:

根据所述历史时间段的运行指标通过第一计算模型得到所述历史时间段的运行指标的第一平均值和第一标准方差值;所述第一计算模型为:

M=Σi=1NXiN]]>D=Σi=1N(Xi-M)2N-1]]>

其中,M为所述历史时间段的运行指标的第一平均值,D为所述历史时间段的运行指标的第一标准方差值,i为所述历史时间段的第i个时间间隔,Xi是所述历史时间段的在第i个时间间隔的运行指标,N为所述历史时间段的时间间隔的数量;

根据所述历史时间段的运行指标的第一平均值和第一标准方差值得到预测区间范围。

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述根据所述历史时间段的运行指标的第一平均值和第一标准方差值得到预测区间范围包括:

根据历史对照时间段的运行指标的第一平均值和第一标准方差值通过第二计算模型得到第一预测区间范围,其中,所述历史对照时间段为在所述历史时间段中与所述当前时间段相同的时间段;

根据所述历史时间段的运行指标的第一平均值和第一标准方差值通过第三计算模型得到第二预测区间范围;

所述判断所述当前时间段内的第q个运行指标是否处于预测区间范围之内,若是,则使q=q+1;若否,则修改所述存储系统的评估分值,并使q=q+1包括:

判断所述当前时间段内的第q个运行指标是否处于所述第一预测区间范围和所述第二预测区间范围之内,若所述第q个运行指标同时处于所述第一预测区间范围和所述第二预测区间范围之内,则使q=q+1,若所述第q个运行指标处于所述第一预测区间范围或者所述第二预测区间范围之外,则修改所述存储系统的评估分值,并使q=q+1。

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