[发明专利]获得对计算机断层扫描数据进行射束硬化校正的射束硬化校正系数的方法和装置

权利要求书

1.一种获得对计算机断层扫描数据进行射束硬化校正的射束硬化校正系数的方法，包括步骤：

针对特定尺寸的对象，获取其原始重构图像和原始正弦图；

对原始重构图像进行投影，并基于投影值的平均值对所述原始正弦图进行误差减少处理后得到误差减少正弦图；

采样并计算原始正弦图的平均值和误差减少正弦图的平均值；

根据误差减少正弦图对原始正弦图进行优化使得所述原始正弦图与所述误差减少正弦图之间的误差最小，以确定针对特定尺寸的对象的优化函数的系数向量；

对原始正弦图的优化函数的系数向量进行拟合，以得到针对特定尺寸的对象的射束硬化校正系数。

2.如权利要求1所述的获得对计算机断层扫描数据进行射束硬化校正的射束硬化校正系数的方法，其特征在于，可以针对多种不同尺寸的对象，分别计算优化函数的系数向量，并且所述拟合是对所有优化函数的系数向量进行拟合。

3.如权利要求1所述的获得对计算机断层扫描数据进行射束硬化校正的射束硬化校正系数的方法，其特征在于，所述误差减少处理进一步包括步骤：

按视图，针对每个检测器，将其所检测到的X射线所穿过的像素点的CT值进行求和，然后除以所穿过的像素点的个数，得到值的集合P’；

找出原始正弦图中与之对应的投影值的集合P，采用下列公式计算：得到误差减少正弦图，其中a是系统对所述对象定义的系数。

4.如权利要求1所述的获得对计算机断层扫描数据进行射束硬化校正的射束硬化校正系数的方法，其特征在于，所述采样并计算原始正弦图的平均值和误差减少正弦图的平均值进一步包括步骤：

确定原始正弦图的边界视图及其邻近视图，作为第一采样视图，以及确定误差减少正弦图的边界视图及其邻近视图，作为第二采样视图；

分别计算第一采样视图和第二采样视图的平均值，作为原始正弦图的平均值和误差减少正弦图的平均值。

5.如权利要求1所述的获得对计算机断层扫描数据进行射束硬化校正的射束硬化校正系数的方法，其特征在于，所述根据误差减少正弦图对原始正弦图进行优化进一步包括步骤：

计算使尽可能接近零的系数向量b，其中Q和Q’分别是原始正弦图的平均值和误差减少正弦图的平均值，Bj是所用的基函数，j＝1，2，...n，n为所采用的基函数的个数，i＝1，2，...，m，m为定义的最高阶数。

6.如权利要求5所述的获得对计算机断层扫描数据进行射束硬化校正的射束硬化校正系数的方法，其特征在于，所述对原始正弦图的优化函数的系数向量进行拟合进一步包括：

根据计算出射束硬化校正系数向量c，其中k＝1，2，..．h，h为定义的最高阶数。

7.一种获得对计算机断层扫描数据进行射束硬化校正的射束硬化校正系数的装置，包括：

获取装置，其针对特定尺寸的对象，获取其原始重构图像和原始正弦图；

误差减少装置，其对原始重构图像进行投影，并基于投影值的平均值对所述原始正弦图进行误差减少处理后得到误差减少正弦图；

平均装置，采样并计算原始正弦图的平均值和误差减少正弦图的平均值；

优化装置，其根据误差减少正弦图对原始正弦图进行优化使得所述原始正弦图与所述误差减少正弦图之间的误差最小，以确定针对特定尺寸的对象的优化函数的系数向量；

拟合装置，其对原始正弦图的优化函数的系数向量进行拟合，以得到针对特定尺寸的对象的射束硬化校正系数。

8.如权利要求7所述的获得对计算机断层扫描数据进行射束硬化校正的射束硬化校正系数的装置，其特征在于，可以针对多种不同尺寸的对象，分别计算优化函数的系数向量，并且所述拟合装置是对所有优化函数的系数向量进行拟合。