[发明专利]基于JDL 模型的液晶显示屏透光度快速检测方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种基于JDL模型的液晶显示屏透光度快速检测方法。 

背景技术

透光率是透过透明或半透明体的光通量与其入射光通量的百分率。表示显示设备等的透过光的效率，它直接影响到触摸屏的视觉效果。很多触摸屏或液晶显示屏是多层的复合薄膜，仅用透明一点来概括它的视觉效果是不够的，它至少应该包括四个特性：透明度、色彩失真度、反光性和清晰度，当然还能再分，比如反光程度包括镜面反光程度和衍射反光程度，只不过液晶显示屏表面衍射反光还没有达到CD盘的程度，对用户而言，这四个特性已经基本够了。透光度是评价液晶显示屏好坏的标准之一。目前液晶显示屏存在光照射液晶显示屏，但是由于液晶显示屏的面是镜像，如果光直射，那么液晶屏会有反射，如果光反射上去，那么光会减弱，这样减弱的光就透不过液晶显示屏。未解决上述问题长做的手段是在偏振片前加一个Polarization Splitter。那么如果让使用者或生产厂商很快获知自己买的或卖的液晶显示屏的透光率如何，便成为一个亟待解决的问题。 

透光率测试仪主要用于测量汽车玻璃、各种玻璃、亚克力、薄膜，塑料以及透明及半透明物体的可见光透光率。它是一款便携式，智能数显的光透率测试器。但是其只能基于一种光（例如：红光、蓝光或黄光等；）进行检测，因此一种结合透光率测试仪实现液晶显示屏透光度快速检测方法急需被研制。 

1984年，美国国防部成立了数据融合联合指挥实验室，该实验室提出了他们的JDL模型，经过逐步改进和推广使用，该模型已成为美国国防信息融合系统的一种实际标准。为液晶显示屏透光度快速检测提供了技术支持。 

发明内容

本发明针对以上问题的提出，而研制基于JDL模型的液晶显示屏透光度快速检测方法。本发明采用的技术方案如下： 

一种基于JDL模型的液晶显示屏透光度快速检测方法，其特征在于包括如下步骤： 

1）控制透光率测试仪发射多种光照射在液晶显示屏上，通过数据采集处理单元采集多种光照射液晶显示屏后的透光率，同时数据采集处理单元将多种光的透光率数据进行过滤处理，然后将处理后的数据发送给透光度快速评估单元； 

2）透光度快速评估单元对数据采集处理单元发送回来的多种光的透光率数据进行分类和整合，转换为适于JDL模型融合方法计算的数据阵列； 

3）然后透光度快速评估单元采用JDL模型融合方法对上述数据进行透光度快速评估，具体处理过程包括：第1级为目标优化、定位和识别目标；第2级处理为态势评估，根据第1级处理提供的信息构建态势图；第3级处理为威胁评估，根据可能采取的行动来解释第2级处理结果,并分析采取各种行动的优缺点； 

4）最后透光度快速评估单元将透光度快速评估结果发给检测监控中心计算机，由计算机中心处理单元进行下一步处理。 

步骤3）中还包括： 

第3级处理为威胁评估过程优化实际是一个反复过程。 

所述多种光的透光率包括红光透光率、蓝光透光率、黄光透光率、红外光透光率和自然光透光率。 

基于JDL模型的液晶显示屏透光度快速检测方法，对现场传回数据融合处理，实现透光度快速检测，这样做确保液晶显示屏透光度快速检测效率快，精确度高，减少前期验证周期。另外该方法还具有：使用方便、处理速度、技术实现容易等特点适于广泛推广。 

附图说明

图1为本发明所述系统的结构框图； 

图2为本发明的实现流程图。 

具体实施方式

如图1和图2所示基于JDL模型的液晶显示屏透光度快速检测方法包括如 下步骤： 

1）控制透光率测试仪发射多种光照射在液晶显示屏上，通过数据采集处理单元采集多种光照射液晶显示屏后的透光率，同时数据采集处理单元将多种光的透光率数据进行过滤处理，然后将处理后的数据发送给透光度快速评估单元； 

2）透光度快速评估单元对数据采集处理单元发送回来的多种光的透光率数据进行分类和整合，转换为适于JDL模型融合方法计算的数据阵列； 

3）然后透光度快速评估单元采用JDL模型融合方法对上述数据进行透光度快速评估，具体处理过程包括：第1级为目标优化、定位和识别目标；第2级处理为态势评估，根据第1级处理提供的信息构建态势图；第3级处理为威胁评估，根据可能采取的行动来解释第2级处理结果,并分析采取各种行动的优缺点； 

4）最后透光度快速评估单元将透光度快速评估结果发给检测监控中心计算机，由计算机中心处理单元进行下一步处理。