[发明专利]一种大功率微波脉冲信号的校准方法有效
申请号: | 201310661034.0 | 申请日: | 2013-12-09 |
公开(公告)号: | CN103630756A | 公开(公告)日: | 2014-03-12 |
发明(设计)人: | 方维海;年丰;张璐;温鑫;陈云梅 | 申请(专利权)人: | 北京无线电计量测试研究所 |
主分类号: | G01R29/02 | 分类号: | G01R29/02 |
代理公司: | 北京正理专利代理有限公司 11257 | 代理人: | 张文祎 |
地址: | 100854 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 大功率 微波 脉冲 信号 校准 方法 | ||
1.一种大功率微波脉冲信号的校准方法,其特征在于,该校准方法包括如下步骤:
S1:利用测温仪(10)分别实时测量耦合器(2)和衰减器(4)的温度,在耦合器(2)的温度稳定之后获得耦合器(2)的最高温度值并将其发送至计算机(9),在衰减器(4)的温度稳定之后获得衰减器(4)的最高温度值并将其发送至计算机(9);
S2:在常温下利用脉冲功率计(8)测量待校准微波脉冲信号的功率,获得待校准微波脉冲信号的功率的实际测量值并将其发送至计算机(9);在常温下利用示波器(7)测量待校准微波脉冲信号的波形,获得待校准微波脉冲信号的波形的实际测量值并将其发送至计算机(9);
S3:根据耦合器(2)的最高温度值确定耦合度修正温度范围,且该耦合度修正温度范围内包含耦合器(2)的最高温度值;根据衰减器(4)的最高温度值确定衰减量修正温度范围,且该衰减量修正温度范围内包含衰减器(4)的最高温度值;
S4:在耦合度修正温度范围内根据需要确定多个耦合度修正温度点;在衰减量修正温度范围内根据需要确定多个衰减量修正温度点;
S5:测量获得耦合器(2)在耦合度修正温度范围内的每一个耦合度修正温度点的耦合度的修正值以及衰减器(4)在衰减量修正温度范围内的每一个衰减量修正温度点的衰减量的修正值;
S6:根据耦合器(2)在耦合度修正温度范围内的每一个耦合度修正温度点的耦合度的修正值获得耦合器(2)的耦合度修正曲线;根据衰减器(4)在衰减量修正温度范围内的每一个衰减量修正温度点的衰减量的修正值获得衰减器(4)的衰减量修正曲线;
S7:由耦合器(2)的耦合度修正曲线得到与耦合器(2)的最高温度值对应的耦合度修正值;由衰减器(4)的衰减量修正曲线得到与衰减器(4)的最高温度值对应的衰减量修正值;
S8:利用计算机(9)由与耦合器(2)的最高温度值对应的耦合度修正值、与衰减器(4)的最高温度值对应的衰减量修正值、以及待校准微波脉冲信号的功率的实际测量值计算获得待校准微波脉冲信号的功率的修正值;利用计算机(9)由与耦合器(2)的最高温度值对应的耦合度修正值、与衰减器(4)的最高温度值对应的衰减量修正值、以及待校准微波脉冲信号的波形的实际测量值计算获得待校准微波脉冲信号的波形的修正值。
2.根据权利要求1所述的大功率微波脉冲信号的校准方法,其特征在于,所述步骤S5包括如下子步骤:
S5.1:在常温下分别测量耦合器(2)的耦合度的系统本底值和衰减器(4)的衰减量的系统本底值;
S5.2:利用第一加热控温装置(12)将耦合器(2)的温度升高至耦合度修正温度范围内的任意一个耦合度修正温度点,利用矢量网络分析仪(11)测量耦合器(2)的耦合度,获得耦合器(2)在该耦合度修正温度点的耦合度的高温测量值;利用第二加热控温装置(13)将衰减器(4)的温度升高至衰减量修正温度范围内的任意一个衰减量修正温度点,利用矢量网络分析仪(11)测量衰减器(4)的衰减量,获得衰减器(4)在该衰减量修正温度点的衰减量的高温测量值;
S5.3:计算耦合器(2)的耦合度的高温测量值与其系统本底值的差值获得耦合器(2)在该耦合度修正温度点的耦合度的修正值;计算衰减器(4)的衰减量的高温测量值与其系统本底值的差值获得衰减器(4)在该衰减量修正温度点的衰减量的修正值;
S5.4:重复所述步骤S5.2至所述S5.3获得耦合器(2)在耦合度修正温度范围内的每一个耦合度修正温度点的耦合度的修正值以及衰减器(4)在衰减量修正温度范围内的每一个衰减量修正温度点的衰减量的修正值。
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