[发明专利]一种薄膜取向特性检测装置及其应用有效
申请号: | 201310661774.4 | 申请日: | 2013-12-09 |
公开(公告)号: | CN103674848A | 公开(公告)日: | 2014-03-26 |
发明(设计)人: | 张继中 | 申请(专利权)人: | 东南大学 |
主分类号: | G01N21/21 | 分类号: | G01N21/21;G01N3/08 |
代理公司: | 南京瑞弘专利商标事务所(普通合伙) 32249 | 代理人: | 杨晓玲 |
地址: | 210096 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 薄膜 取向 特性 检测 装置 及其 应用 | ||
1.一种薄膜取向特性检测装置,其特征在于该装置由用于固定薄膜的薄膜固定组件(3)、用于测量薄膜长度的长度测量组件(2)及承载上述组件使得薄膜能够位于光谱通路的支架(1)组成;其中,支架(1)中的底座(1a)位于该装置的最底部,量具及薄膜固定平台(1b)通过平台固定螺丝(1c)固定在支架(1);
薄膜固定组件(3)中的固定端(3b)位于薄膜固定平台(1b)上,移动端(3a)位于固定端(3b)的上方,测试薄膜(3c)位于移动端(3a)与固定端(3b)之间;长度测量组件(2)中的主尺(2a)竖直固定在薄膜固定平台(1b)上,副尺(2b)由副尺固定螺丝(2c)固定在主尺(2a)的侧面,副尺(2b)的外端与移动端(3a)连接。
2.根据权利要求1所述的一种薄膜取向特性检测装置,其特征在于,所述的测试薄膜为光通透性薄膜。
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