[发明专利]一种阵列基板及显示装置

权利要求书

1.一种阵列基板，包括多个栅线组和多个栅极驱动电路，各栅线组与各栅极驱动电路一一对应相连，其特征在于，还包括：

多条与所述栅极驱动电路一一对应的栅线测试控制线；

多个与所述各栅线组中的各栅线一一对应相连的栅线测试用薄膜晶体管；

其中，每一条栅线与对应的栅线测试用薄膜晶体管的漏极相连；与每一栅线组中的栅线相连的栅线测试用薄膜晶体管的栅极与每一条栅线测试控制线的一端相连。

2.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，还包括分别与所述每一条栅线测试控制线的另一端相连的栅线测试控制端子。

3.根据权利要求2所述的阵列基板，其特征在于，各条栅线测试控制线同时与其中一个设定的栅线测试控制端子相连。

4.根据权利要求3所述的阵列基板，其特征在于，还包括：多条与所述各栅线测试用薄膜晶体管一一对应相连的栅线测试信号线，与栅线测试信号线一一对应相连的栅线测试端子；

所述栅线测试信号线的一端与栅线测试用薄膜晶体管的源极相连，另一端与所述栅线测试端子相连。

5.根据权利要求4所述的阵列基板，其特征在于，所述栅极驱动电路为栅极驱动芯片IC或阵列基板行驱动GOA电路。

6.根据权利要求1-5任一所述的阵列基板，还包括：多个数据线组和多个源极驱动电路，各数据线组与各源极驱动电路一一对应相连，其特征在于，还包括：

多条与所述源极驱动电路一一对应的数据线测试控制线；

多个与各数据线组中的各数据线一一对应相连的数据线测试用薄膜晶体管；

其中，每一条数据线与对应的数据线测试用薄膜晶体管的漏极相连；与每一数据线组中的数据线相连的数据线测试用薄膜晶体管的源极与每一条数据线测试控制线的一端相连。

7.根据权利要求6所述的阵列基板，其特征在于，还包括分别与所述每一条数据线测试控制线的另一端相连的数据线测试控制端子。

8.根据权利要求7所述的阵列基板，其特征在于，各条数据线测试控制线同时还与其中一个设定的数据线测试控制端子相连。

9.根据权利要求8所述的阵列基板，其特征在于，还包括：多条与所述各数据线测试用薄膜晶体管一一对应相连的数据线测试信号线，与数据线测试信号线一一对应相连的数据线测试端子；

所述数据线测试信号线的一端与数据线测试用薄膜晶体管的源极相连，另一端与所述数据线测试端子相连。

10.一种阵列基板，包括：多个数据线组和多个源极驱动电路，各数据线组与各源极驱动电路一一对应相连，其特征在于，还包括：

多条与所述源极驱动电路一一对应的数据线测试控制线；

多个与各数据线组中的各数据线一一对应相连的数据线测试用薄膜晶体管；

其中，每一条数据线与对应的数据线测试用薄膜晶体管的漏极相连；与每一数据线组中的数据线相连的数据线测试用薄膜晶体管的源极与每一条数据线测试控制线的一端相连。

11.根据权利要求10所述的阵列基板，其特征在于，还包括分别与所述每一条数据线测试控制线的另一端相连的数据线测试控制端子。

12.根据权利要求11所述的阵列基板，其特征在于，各条数据线测试控制线同时还与其中一个设定的数据线测试控制端子相连。

13.根据权利要求12所述的阵列基板，其特征在于，还包括：多条与所述各数据线测试用薄膜晶体管一一对应相连的数据线测试信号线，与数据线测试信号线一一对应相连的数据线测试端子；

所述数据线测试信号线的一端与数据线测试用薄膜晶体管的源极相连，另一端与所述数据线测试端子相连。

14.一种显示装置，其特征在于，包括权利要求1-9任一权项所述的阵列基板。

15.一种显示装置，其特征在于，包括权利要求10-13任一权项所述的阵列基板。