[发明专利]一种电子式互感器校验仪的性能检测方法和系统

权利要求书

1.一种电子式互感器校验仪的性能检测方法，其特征在于，所述电子式互感器校验仪的检测方法包括以下步骤：

将预设模拟信号量输入被测电子式互感器校验仪；

将数值与所述预设模拟信号量相同的数字信号量输入所述被测电子式互感器校验仪；

获取所述被测电子式互感器校验仪的第一误差值；

将所述数字信号量叠加一个预设数字信号微差量后与所述预设模拟信号量输入所述被测电子式互感器校验仪；

获取所述被测电子式互感器校验仪的第二误差值。

2.如权利要求1所述的电子式互感器校验仪的性能检测方法，其特征在于，所述获取所述电子式互感器校验仪的第一误差的步骤具体包括以下步骤：

读取所述被测电子式互感器校验仪显示的第一模拟信号量和第一数字信号量；

计算所述第一模拟信号量与第一数字信号量的差值，以作为所述被测电子式互感器校验仪的第一误差值。

3.如权利要求1所述的电子式互感器校验仪的性能检测方法，其特征在于，所述获取所述电子式互感器校验仪的第二误差的步骤具体包括以下步骤：

读取所述被测电子式互感器校验仪显示的第二模拟信号量和第二数字信号量；

计算所述第二模拟信号量与第二数字信号量的差值；

根据所述差值和所述预设数字信号微差量计算所述被测电子式互感器校验仪的第二误差值。

4.如权利要求3所述的电子式互感器校验仪的性能检测方法，其特征在于，所述根据所述差值和所述预设数字信号微差量计算所述被测电子式互感器校验仪的第二误差值的步骤具体为：

根据以下算式计算所述被测电子式互感器校验仪的第二误差值；

ΔH=H₁-H₂；

其中，ΔH表示所述检测电子式互感器校验仪的第二误差值，H1表示所述第二模拟信号量与第二数字信号量的差值，H2表示所述预设数字信号微差量的数值。

5.如权利要求1-4任一所述的电子式互感器校验仪的性能检测方法，其特征在于，所述模拟信号量和所述数字信号量均为向量值，所述向量值包括幅值和相位。

6.一种电子式互感器校验仪的性能检测系统，与被测电子式互感器校验仪连接，其特征在于，所述电子式互感器校验仪的检测系统包括：

模拟信号量输出单元，用于将预设模拟信号量输入被测电子式互感器校验仪；

数字信号量输出单元，用于将数值与所述预设模拟信号量相同的数字信号量输入所述被测电子式互感器校验仪；

第一获取单元，用于获取所述被测电子式互感器校验仪的第一误差值；

微差量叠加单元，用于在所述数字信号量上叠加一个预设数字信号微差量；

第二获取单元，用于获取所述被测电子式互感器校验仪的第二误差值。

7.如权利要求6所述的电子式互感器校验仪的性能检测系统，其特征在于，第一获取单元包括：

第一读取单元，用于读取所述被测电子式互感器校验仪显示的第一模拟信号量和第一数字信号量；

第一计算单元，用于计算所述第一模拟信号量与第一数字信号量的差值，以作为所述被测电子式互感器校验仪的第一误差值。

8.如权利要求6所述的电子式互感器校验仪的性能检测系统，其特征在于，所述第二获取单元包括：

第二读取单元，用于读取所述被测电子式互感器校验仪显示的第二模拟信号量和第二数字信号量；

第二计算单元，用于计算所述第二模拟信号量与第二数字信号量的差值；

第三计算单元，用于根据所述差值和所述预设数字信号微差量计算所述被测电子式互感器校验仪的第二误差值。

9.如权利要求3所述的电子式互感器校验仪的性能检测系统，其特征在于，所述第三计算单元具体用于：

根据以下算式计算所述被测电子式互感器校验仪的第二误差值；

ΔH=H₁一H₂；

其中，ΔH表示所述检测电子式互感器校验仪的第二误差值，H1表示所述第二模拟信号量与第二数字信号量的差值，H2表示所述预设数字信号微差量的数值。

10.如权利要求6-9任一所述的电子式互感器校验仪的性能检测系统，其特征在于，所述模拟信号量和所述数字信号量均为向量值，所述向量值包括幅值和相位。