[发明专利]一种基于阿尔奇公式的电阻率侵入校正的新方法无效

专利信息
申请号: 201310664431.3 申请日: 2013-12-10
公开(公告)号: CN103628871A 公开(公告)日: 2014-03-12
发明(设计)人: 赵军;肖承文;古莉;祁新忠;杨福林 申请(专利权)人: 西南石油大学
主分类号: E21B49/08 分类号: E21B49/08
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 610500 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 阿尔奇 公式 电阻率 侵入 校正 新方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种基于阿尔奇公式的电阻率侵入校正的新方法,用于高矿化度泥浆钻井条件下,由于泥浆侵入效应造成对测井资料影响的情况下,进行有效校正为提高测井识别油气层的能力及饱和度参数的计算精度,属于石油天然气勘探领域。

背景技术

利用电阻率测井识别油气层,求准地层真电阻率,进而估算地层原始含油(气)饱和度,是测井储层评价的重要研究内容之一。由于在渗透性地层处存在钻井液侵入影响,使观测得到的地层电阻率和冲洗带电阻率与实际的电阻率相比存在较大偏差,降低了利用测井资料区分油气层与水层的分辨率。且研究结果表明,若性能较差的盐水泥浆浸泡高孔高渗油层达8-10天,可使原始油层电阻率下降30-50%,可见,如果泥浆浸泡油气层时间较长,会使电阻率测井值大幅度降低,这不仅影响饱和度的定量计算,甚至还影响测井识别油气层。因此,无论识别油气层,还是定量分析原状地层电阻率进而求准饱和度,都必须对泥浆侵入效应造成的测井资料的影响进行有效校正。

针对高矿化度盐水泥浆的侵入机理及其校正方法,目前认识还不是很清楚,尤其是趋肤效应和井筒效应对地层电阻率的影响及其在测井曲线上的响应规律在理论上还没有做进一步的研究和分析,此外,在泥浆侵入校正方法上也存在着涉及变量多,参数的不易确定性和假设条件的限制,使得方法的准确性和实用性较差,远远不能满足现场的生产需要。

针对以上技术难点,在高矿化度泥浆影响下的测井资料校正与解释,目前往往从两个方面来考虑:一方面在钻井液侵入储层较浅时进行及时的测井或使用随钻测井;另一方面使用探测深度较深的电阻率测井,如阵列感应和侧向测井。对于淡水泥浆或矿化度不太高的泥浆,以斯仑贝谢为首的测井公司一直采用理论旋风图版进行侵入校正,获得地层真电阻率和侵入半径;从岩石物理的解释模型出发,考虑误差因素,采用数据处理最优化方法获得地层真电阻率和侵入半径。此外,还有其它一些方法也可以对感应测井曲线进行泥浆侵入校正。诸如:①Bateman R.M与Konen C.E对斯仑贝谢公司的双感应一八侧向解释图版研究后,提出的泥浆侵入校正公式;②海洋测井公司推出的时间推移法等。

发明内容

本发明的目的为了克服现有技术的不足,提供一种基于阿尔奇公式的电阻率侵入校正的新方法,该方法利用压汞资料确定气层段的束缚水饱和度,然后用阿尔奇公式反求出地层的真实电阻率,从而对泥浆侵入地层的电阻率进行校正。由此提高测井识别油气层的能力及饱和度参数的计算精度,从而提高测井解释的精度,提升勘探效益。

为达到以上技术目的,本发明采用以下技术方案:

本发明一种基于阿尔奇公式的电阻率侵入校正的新方法,方法是:利用平均毛管压力曲线求出油藏储层的最小流动孔喉半径,然后根据最小流动孔喉半径求取每条毛管压力曲线的束缚水饱和度,即为气层段的束缚水饱和度;接着将岩电参数代入阿尔奇公式中,由阿尔奇公式反求出地层的电阻率,该电阻率代表了地层真实的电阻率;将上述所得的地层真电阻率与相同深度的测井视电阻率进行统计分析,得到它们之间的相关关系,从而得到电阻率校正模型;

利用该方法,依次包含以下步骤:

①收集毛管压力资料,去掉非储层样品点,经J函数处理,得到平均毛管压力曲线;

②在平均毛管压力曲线上,用沃尔法和渗透能力分布法综合确定最小流动孔喉半径转换的流动毛管压力值;

③根据上述最小流动毛管压力,在压汞曲线图上就可查得其对应的含水饱和度,该含水饱和度即为气层段的束缚水饱和度;

④根据上述束缚水饱和度,将岩电参数代入阿尔奇公式中,可由阿尔奇公式反求出地层的电阻率,该电阻率代表了地层的真实的电阻率;

⑤将上述方法得到的地层真电阻率Rt与同深度的测井视电阻率进行统计分析,根据它们之间的相关关系,得到电阻率校正模型。

本发明的优点:1、该方法克服了现有技术的不足,提供了一种利用阿尔奇公式进行电阻率侵入校正的新方法,能有效消除裂缝发育对地层电阻率的影响,从而提高饱和度参数的计算精度和测井解释的符合率;2、该电阻率校正模型无需额外加测测井曲线,成本低廉,有成熟的理论支撑,模型可信度高;3、该电阻率校正模型可直接编程使用,计算方便且效率高。

附图说明

图1为本发明一种基于阿尔奇公式的电阻率侵入校正的新方法在某地区Z平均毛管压力曲线图;

图2为本发明某地区Z某X井束缚水饱和度确定图;

图3为本发明某地区Z某地层A真电阻率与视电阻率关系图;

图4为本发明某地区Z某地层B真电阻率与视电阻率关系图;

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