[发明专利]石蜡温度-光学特性检测系统在审
申请号: | 201310665478.1 | 申请日: | 2013-12-06 |
公开(公告)号: | CN104697957A | 公开(公告)日: | 2015-06-10 |
发明(设计)人: | 刘新涛;姜维喜;陈剑英;卞福香;穆道旭 | 申请(专利权)人: | 大连隆星新材料有限公司 |
主分类号: | G01N21/49 | 分类号: | G01N21/49;B07C5/342 |
代理公司: | 大连东方专利代理有限责任公司 21212 | 代理人: | 曲永祚 |
地址: | 116000 辽宁省大*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 石蜡 温度 光学 特性 检测 系统 | ||
技术领域
本发明涉及一种石蜡温度-光学特性检测系统。
背景技术
石蜡切片作为一种成熟的化工产品,产量和需求量很大,而且在石蜡切片的生产过程中,由于温度和其他环境因素,造成石蜡切片的个体差异很大。如何能够对数量巨大的石蜡切片进行分类包装,成为一个亟待解决的问题。
通过分析石蜡的光学性质,即可得出石蜡切片的物理性质,进而对石蜡切片进行分级,不失为一个好方法。
发明内容
本发明针对以上问题的提出,而研制的一种石蜡温度-光学特性检测系统,具有:存储待检测石蜡切片的存储装置,位于存储装置下方的传送带I,所述的传送带将存储装置释放的石蜡切片运输穿过一检测暗箱;
所述检测暗箱内部具有成对设置红外发射装置和红外接收装置,所述的红外发射装置向经过的石蜡切片发出红外光,经石蜡切片反射后的红外光由所述的红外接收装置接收;
还具有一比对当前石蜡切片温度和光学特性的处理单元,与所述的红外接收装置连接,比对经反射后的红外光,判定石蜡切片的温度和和光学特性,对石蜡切片的等级进行分类。
还具有分拣单元,包括位于所述传送带I下方的传送带II,在所述传送带II两侧分别设有带有推杆的推送装置和接收由推杆推送的石蜡切片的存储箱;
所述的处理单元,得出石蜡切片等级后,根据传送带的速度,控制所述推送装置推送石蜡切片,送入所述的存储箱。
由于采用了上述技术方案,本发明提供的石蜡温度-光学特性检测系统,通过分析石蜡切片的红外反射性能,分析得出石蜡切片的物理性质,作为石蜡的分类依据,并且设置相应的分拣设备,可以快速高效的对石蜡切片进行分拣。
附图说明
为了更清楚的说明本发明的实施例或现有技术的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图做一简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明的示意图
图2为本发明暗箱的示意图
图3为本发明分拣结构的示意图
具体实施方式
为使本发明的实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚完整的描述:
如图1-3所示:一种石蜡温度-光学特性检测系统,具有:存储待检测石蜡切片11的存储装置1,位于存储装置1下方的传送带I2,所述的传送带将存储装置1释放的石蜡切片11运输穿过一检测暗箱3;
所述检测暗箱3内部具有成对设置红外发射装置31和红外接收装置32,所述的红外发射装置31向经过的石蜡切片11发出红外光,经石蜡切片反射后的红外光由所述的红外接收装置32接收;
还具有一比对当前石蜡切片温度和光学特性的处理单元,与所述的红外接收装置连接,比对经反射后的红外光,判定石蜡切片的温度和和光学特性,对石蜡切片的等级进行分类。
2、根据权利要求1所述的一种石蜡温度-光学特性检测系统,其特征还在于:还具有分拣单元,包括位于所述传送带I2下方的传送带II21,在所述传送带II两侧分别设有带有推杆41的推送装置4和接收由推杆41推送的石蜡切片11的存储箱42;
所述的处理单元,得出石蜡切片等级后,根据传送带的速度,控制所述推送装置4推送石蜡切片,送入所述的存储箱42。
以上所述,仅为本发明较佳的具体实施方式,但本发明的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内,根据本发明的技术方案及其发明构思加以等同替换或改变,都应涵盖在本发明的保护范围之内。
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