[发明专利]一种PCIE地址映射检测的方法及装置有效

专利信息
申请号: 201310671716.X 申请日: 2013-12-10
公开(公告)号: CN103731317A 公开(公告)日: 2014-04-16
发明(设计)人: 林勇军 申请(专利权)人: 福建星网锐捷网络有限公司
主分类号: H04L12/26 分类号: H04L12/26
代理公司: 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 代理人: 黄志华
地址: 350002 福建省福州市仓*** 国省代码: 福建;35
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摘要:
搜索关键词: 一种 pcie 地址 映射 检测 方法 装置
【说明书】:

技术领域

发明涉及通信技术领域,尤其涉及一种PCIE地址映射检测的方法及装置。

背景技术

快速外部设备互连(Peripheral Component Interconnect Express,PCIE)具有数据传输速率高的优势,目前,此数据传输速率最高的16X2.0版本可达到10GB/s,能够满足现在和将来一定时间内低速设备和高速设备的需求。

如图1所示,上述的PCIE体系架构,通常包括根组件(Root Complex,RC)101、交换设备(Switch)102和多个终端设备(End Point,EP)103。其中,RC101主要完成资源分配、设备配置(例如配置设备的总线编号/设备编号/功能编号)以及为自身和EP分配PCIE地址;RC101的下游端口可挂接Switch102扩展更多的PCIE端口,当然也可以直接挂接EP;Switch102的下游端口可以挂接多个EP103,Switch102主要起到扩展PCIE体系架构的作用。

在上述PCIE体系架构中,RC进行PCI总线枚举(Bus Enumeration)时,从PCIE总线域中为自身和每个EP分配PCIE地址,以使得EP启动时,本地存储器域的内存地址可以映射到PCIE地址。

为了保证PCIE体系架构中设备之间的正常通信,通常需要对EP或RC的PCIE地址映射进行检测,如果PCIE地址映射错误的话,无法进行后续通信。目前,通常采用下述两种方式实现PCIE地址映射检测:

第一种方式:源设备通过PCIE存储写事务,向目标设备的指定PCIE地址中写入预设测试数据,由目标设备将此指定PCIE地址中写入的测试数据打印出来,然后,与预设数据进行比对,以确定目标设备的指定PCIE地址映射是否正确,如果采用这种方式检测源设备的PCIE地址的话,反向操作即可。

第二种方式:目标端设备先向本地的指定PCIE地址中写入预设测试数据,然后源设备通过PCIE存储读事务读取此指定PCIE地址中写入的测试数据,然后,与预设数据进行比对,以确定目标设备的指定PCIE地址映射是否正确,如果采用这种方式检测源设备的PCIE地址的话,反向操作即可。

不管采用上述哪种方式检测PCIE地址,只能实现单向检测,即检测源设备侧的PCIE地址,或者是目标设备侧的PCIE地址,这就导致在需要同时检测源设备和目标设备时检测时间较长。

发明内容

本发明实施例提供了一种PCIE地址映射检测的方法及装置,用以解决现有检测PCIE地址映射的检测时间较长的问题。

基于上述问题,本发明实施例提供的一种PCIE地址映射检测的方法,包括:

源设备向所述目标设备的当前PCIE地址中写入点到多点(Point To Multipoint,PTMP)请求报文,所述目标设备的当前PCIE地址为所述源设备根据本地保存的目标设备的PCIE基地址和当前PCIE地址偏移确定出的,所述PTMP请求报文中携带有源设备的当前PCIE地址偏移和测试数据;

如果在预设时间内监测到自身的当前PCIE地址中存有所述目标设备写入的PTMP回应报文,则确定所述PTMP回应报文中携带的回应测试数据是否与所述PTMP请求报文中携带的测试数据相同,所述源设备的当前PCIE地址为所述目标设备在监测到自身的当前PCIE地址中存有PTMP请求报文后,根据本地保存的源设备的PCIE基地址和所述PTMP请求报文中携带的源设备的当前PCIE地址偏移确定出的,所述PTMP回应报文中携带有目标设备的下一个PCIE地址偏移和回应测试数据;

在确定为相同时,确定所述目标设备和所述源设备的当前PCIE地址映射正确,并将所述PTMP回应报文中携带的目标设备的下一个PICE地址偏移和自身的下一个PCIF地址偏移,分别与预设的PCIE地址偏移进行比较,根据比较结果确定所述目标设备和自身的下一个PCIE地址,将其分别作为所述目标设备和自身的当前PCIE地址,返回向所述目标设备的当前PCIE地址中写入所述PTMP请求报文的步骤,直到确定出所述PTMP回应报文中携带的目标设备的下一个PICE地址偏移,和自身的下一个PCIE地址偏移均为所述预设PCIE地址偏移时结束检测。

本发明实施例提供的一种PCIE地址映射的检测装置,包括:

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