[发明专利]低电平扫频电流测试系统及测试方法

权利要求书

1.一种低电平扫频电流测试系统，其特征在于：包括信号发生装置（1）、测量接收装置（11）、发射天线（3）、场强探测装置（4）、电流测试装置（7）及电流注入装置；

所述发射天线（3）用于发射信号发生装置（11）所产生的低电平扫频信号；

所述场强探测装置（4）位于选定的待测点处，用于探测选定的待测点处发射天线发射的低电平扫频信号并将探测结果传递至测量接收装置（11）；

所述电流测试装置（7）位于待测点处的待测系统监测点的线缆上，用于探测线缆的感应电流，并将该感应电流传输至测量接收装置（11）；

所述测量接收装置（11）对接收的低电平扫频电场或感应电流进行测量并记录；

所述电流注入装置包括电流注入部件（8）和电流监测部件（9），所述电流注入部件（8）和电流监测部件（9）钳在待测系统待测线缆束上。

2.根据权利要求1所述的低电平扫频电流测试系统，其特征在于：所述测试系统还包括光电发射器（5），所述光电发射器（5）的一端与场强探测装置（4）或电流测试装置（7）连接，所述光电发射器（5）的另一端通过光纤（2）与测量接收装置（11）连接。

3.根据权利要求1或2所述的低电平扫频电流测试系统，其特征在于：所述场强探测装置（4）距离发射天线（3）之间的距离不小于待测系统长度的1.5倍。

4.根据权利要求1或2所述的低电平扫频电流测试系统，其特征在于：所述电流测试装置（7）距离发射天线（3）之间的距离不小于待测系统长度的1.5倍。

5.根据权利要求3所述的低电平扫频电流测试系统，其特征在于：所述场强探测装置（4）为电场探头，所述电场探头的高度与待测系统几何中心线的高度相同。

6.根据权利要求4所述的低电平扫频电流测试系统，其特征在于：所述电流测试装置（7）为电流监测探头，所述电流监测探头的高度与待测系统几何中心线的高度相同。

7.根据权利要求1所述的低电平扫频电流测试系统，其特征在于：所述电流监测部件（9）与待测系统线缆连接器（10）之间的距离L4为50mm，所述电流注入部件（8）与电流监测部件（9）之间的距离L3为50mm。

8.根据权利要求1所述的低电平扫频电流测试系统，其特征在于：所述信号发生装置还包括自动控制设备，所述自动控制设备用于信号产生的控制、接收及功率放大。

9.根据权利要求1所述的低电平扫频电流测试系统，其特征在于：所述信号发生装置及测量接收装置安装在可移动的机柜中，所述机柜具有统一配置的安全供电防护系统和通风散热系统。

10.一种利用低电平扫频电流测试系统进行辐射敏感度测试的方法，其特征在于：包括以下步骤：

1】获取一定频率范围内，信号频率与电场强度与电流之间的关系；

2】获取一定频率范围内，信号频率与电流之间的关系；

3】通过步骤1】和步骤2】获取一定频率范围内，电场强度与电流之间的关系，即耦合系数；

4】通过步骤3】中获取的耦合系数，得到特定HIRF场强下被试设备互联线束上的线束感应电流；

5】在互联线束上通过耦合方式注入相应的共模电流，就起到HIRF辐射场照射的效果。