[发明专利]全光单片集成光电器件及其制作方法在审

专利信息
申请号: 201310676003.2 申请日: 2013-12-12
公开(公告)号: CN104716153A 公开(公告)日: 2015-06-17
发明(设计)人: 任昕;陆书龙;边历峰 申请(专利权)人: 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所
主分类号: H01L27/15 分类号: H01L27/15;H01L33/00
代理公司: 南京利丰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 32256 代理人: 王锋
地址: 215000 江苏省苏州*** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 单片 集成 光电 器件 及其 制作方法
【权利要求书】:

1.一种全光单片集成光电器件,其特征在于,包括p型GaAs衬底,以及依次形成于p型GaAs衬底上的GaInP/AlGaInP有源区量子阱、n型GaAs接触层、n型GaN接触层、GaN/InGaN有源区量子阱和p型GaN接触层,所述全光单片集成光电器件为单片集成的单个器件。

2.根据权利要求1所述的全光单片集成光电器件,其特征在于:所述n型GaN接触层键合形成于所述n型GaAs接触层表面。

3.根据权利要求1所述的全光单片集成光电器件,其特征在于:所述全光单片集成光电器件为LED或光伏电池。

4.一种全光单片集成光电器件的制作方法,其特征在于,包括:

s1、在p型GaAs衬底上依次生长GaInP/AlGaInP有源区量子阱和n型GaAs接触层,获得GaAs晶片;

s2、在蓝宝石衬底上依次生长p型GaN接触层、GaN/InGaN有源区量子阱和n型GaN接触层,获得GaN晶片;

s3、将n型GaAs接触层和n型GaN接触层进行键合;

s4、剥离蓝宝石衬底。

5.根据权利要求4所述的全光单片集成光电器件的制作方法,其特征在于:所述步骤s1中,所述GaInP/AlGaInP有源区量子阱通过分子束外延方法生长于p型GaAs衬底上,生长温度控制为610~730℃,生长压力控制为4~8MPa。

6.根据权利要求4所述的全光单片集成光电器件的制作方法,其特征在于:所述步骤s3中,键合前还包括:将GaAs晶片和GaN晶片依次在三氯乙烯/丙酮/乙醇中超声清洗,并在HC1溶液中浸泡去除表面氧化物,最后用去离子水清洗。

7.根据权利要求6所述的全光单片集成光电器件的制作方法,其特征在于:所述HC1溶液中,Hcl与H2O的体积比为1:5。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所;,未经中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所;许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201310676003.2/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top