[发明专利]一种LED光性能测试试验台

说明书

技术领域

发明涉及一种LED光性能测试试验台。

背景技术

随着国民经济的快速发展，LED具有环保、节能、寿命长等优点，已经被广泛应用在各个领域。

目前，成品的LED没有专门的设备仪器去检测LED的光性能参数，不能全面检测LED产品的优劣。

故，需要一种新的技术方案以解决上述问题。

发明内容

本发明的目的是针对现有检测技术存在的不足，提供一种LED光性能测试试验台，该试验台操作简单，易于维护。

为实现上述发明目的，本发明LED光性能测试试验台可采用如下技术方案：

一种LED光性能测试试验台，包括控制面板、位于控制面板上的显示装置、用以收容LED灯具的第一密闭仓、用以收容LED灯板的第二密闭仓、装于第一密闭仓和第二密闭仓内部的光谱仪，所述光谱仪与显示装置连接；所述第二密封仓上设有盖板、第一密封仓上设有侧板；盖板及侧板打开时第一密封仓的开口方向与第二密封仓的开口方向是垂直的；所述侧板的内表面上设有用以固定LED灯板的灯板工装、第一密闭仓内部设有用以固定LED灯具的灯具工装；所述第一密封仓及第二密封仓的内表面为黑色涂层。

与背景技术相比，本发明LED光性能测试试验台为LED测试提供一个密闭、无外界光源及反光面的环境，LED成品放在测试的工装上，通过面板的简单控制操作，在面板上显示出LED的光性能参数。可通过旋钮调节，测试不同电流大小下的LED光性能参数，操作简单，易于实现。

附图说明

图1是本发明LED光性能测试试验台的立体图。

图2是本发明LED光性能测试试验台的主视图。

图3为图2中沿B-B截面的剖视图。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施方式，进一步阐明本发明，应理解这些实施方式仅用于说明本发明而不用于限制本发明的范围，在阅读了本发明之后，本领域技术人员对本发明的各种等价形式的修改均落于本申请所附权利要求所限定的范围。

请参阅图1至图3所示，本发明公开一种LED光性能测试试验台，包括控制面板1、位于控制面板上1的显示装置2、用以收容LED灯具（未图示）的第一密闭仓3、用以收容LED灯板（未图示）的第二密闭仓4、装于第一密闭仓3和第二密闭仓4内部的光谱仪6，所述光谱仪6与显示装置2连接；所述第二密封仓4上设有盖板7、第一密封仓3上设有侧板8；盖板7及侧板8打开时第一密封仓4的开口方向与第二密封仓5的开口方向是垂直的，从而便于LED灯具及LED灯板各自的安装；所述侧板8的内表面上设有用以固定LED灯板的灯板工装9、第一密闭仓3内部设有用以固定LED灯具的灯具工装10。所述第一密封仓3及第二密封仓4的内表面为黑色涂层，以能够使得到的LED灯具的发光效果更加纯正。所述第一密封仓3与第二密封仓4并排设置在一起，所述第一密封仓3中的光谱仪6设置于第一密封仓3底部从而能够正对着LED灯具。第二密封仓4中的光谱仪6设置于第二密封仓4面对侧板8的内表面上。使用时，通过控制面板1控制对LED灯具的亮暗转换，通过显示装置2连接的光谱仪6来体现LED灯具的光性能参数。本发明LED光性能测试试验台为LED测试提供一个密闭、无外界光源及反光面的环境，LED成品放在测试的工装上，通过面板的简单控制操作，在面板上显示出LED的光性能参数。可通过旋钮调节，测试不同电流大小下的LED光性能参数，操作简单，易于实现。本发明适用于所有LED半成品或成品的测试。