[发明专利]高速粒子撞击测试系统有效
申请号: | 201310684419.9 | 申请日: | 2013-12-13 |
公开(公告)号: | CN103674083A | 公开(公告)日: | 2014-03-26 |
发明(设计)人: | 王巍;胡常青;杨勇;唐才杰;盖永辉;张东旭;范慧佳 | 申请(专利权)人: | 北京航天时代光电科技有限公司 |
主分类号: | G01D5/353 | 分类号: | G01D5/353;G01M7/08 |
代理公司: | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人: | 范晓毅 |
地址: | 100094*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 高速 粒子 撞击 测试 系统 | ||
1.高速粒子撞击测试系统,其特征在于包括:撞击信息传感器(1)和信息采集与处理设备(2),其中撞击信息传感器(1)包括光纤传感器网格(5)和光发射与探测装置(3),其中光纤传感器网格(5)由n根传感光纤(6)通过经纬交错方式固定于靶目标(4)表面形成,每根传感光纤(6)在靶目标(4)表面形成回路;光发射与探测装置(3)与信息采集与处理设备(2)连接;光发射与探测装置(3)包括光源(101)、光分路器(102)和n个光电探测器(103),其中光源(101)与光分路器(102)连接,光分路器(102)的n个端口分别与n根传感光纤(6)连接,n根传感光纤(6)分别与n个光电探测器(103)连接,光源(101)产生光信号通过光分路器(102)入射到每根传感光纤(6)中,光电探测器(103)接收每根传感光纤(6)的光信号,转换为电压信号,当传感光纤(6)未受损伤时,对应的光电探测器(103)向信息采集与处理设备(2)输出高电平,当传感光纤(6)受损伤时,对应的光电探测器(103)向信息采集与处理设备(2)输出低电平;信息采集与处理设备(2)接收所述高电平信息与低电平信息,根据传感光纤(6)的损伤情况,获得在靶目标(4)上的撞击位置信息和撞击角度信息,其中n为正整数,且n≥1。
2.根据权利要求1所述的高速粒子撞击测试系统,其特征在于:所述光纤传感器网格(5)还包括m根传感光纤(6’),所述传感光纤(6’)上布设有光纤光栅温度传感器(1001)和光纤光栅应变传感器(1002),其中光纤光栅温度传感器(1001)用于测量与靶目标(4)撞击过程中的温度,光纤光栅应变传感器(1002)用于测量与靶目标(4)撞击过程中的应力应变,m根传感光纤(6’)与外部光纤光栅传感器解调仪连接,所述温度和应力应变信息通过m根传感光纤(6’)输出给外部光纤光栅传感器解调仪,其中m为正整数,且m≥1。
3.根据权利要求2所述的高速粒子撞击测试系统,其特征在于:所述每根传感光纤(6’)上设置多个测试点,每个测试点上布置2个光纤光栅应变传感器(1002)和1个光纤光栅温度传感器(1001)。
4.根据权利要求3所述的高速粒子撞击测试系统,其特征在于:所述光纤光栅温度传感器(1001)在布设时选用粘接胶粘贴在传感光纤(6’)的测试点,并用隔热材料覆盖,保证仅敏感待测结构的温度变化;所述光纤光栅应变传感器(1002)选用粘接胶粘贴在传感光纤(6’)的测试点,并用保护层进行覆盖,做进一步保护。
5.根据权利要求2所述的高速粒子撞击测试系统,其特征在于:所述传感光纤(6’)选择波长为1310nm或1550nm的光纤。
6.根据权利要求1所述的高速粒子撞击测试系统,其特征在于:所述传感光纤(6)选择波长为1310nm或1550nm的光纤。
7.根据权利要求1所述的高速粒子撞击测试系统,其特征在于:所述光电探测器(103)为静电敏感器件,采用PIN-FET光电探测器。
8.根据权利要求1所述的高速粒子撞击测试系统,其特征在于:所述靶目标(4)在正反面同时布设传感光纤(6)。
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