[发明专利]用于角膜测量的光学影像装置以及角膜测量的方法在审

专利信息
申请号: 201310684799.6 申请日: 2013-12-13
公开(公告)号: CN104706316A 公开(公告)日: 2015-06-17
发明(设计)人: 黄升龙;王威;何端书;庄仲平;颜孟新;许光裕;蔡建中;周忠诚 申请(专利权)人: 明达医学科技股份有限公司;黄升龙
主分类号: A61B3/107 分类号: A61B3/107;A61B3/14
代理公司: 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 代理人: 赵蓉民
地址: 中国台湾桃园县龟山*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 用于 角膜 测量 光学 影像 装置 以及 方法
【权利要求书】:

1.一种用于角膜测量的光学影像装置,包括:

光源模块;

第一光学元件组;

第二光学元件组,包括参考镜;

分光器,通过所述分光器所述光源模块提供的光线分别传递至所述第一光学元件组以及所述第二光学元件组;以及

影像分析单元;

其中,所述光源模块的所述光线经由所述分光器、所述第一光学元件组传递至角膜,所述光线被所述角膜反射后形成第一光线,所述第一光线再依序传递至所述分光器以及所述影像分析单元,

其中,所述光源模块的所述光线经由所述分光器传递至所述第二光学元件组的所述参考镜,所述光线被所述参考镜反射后形成第二光线,所述第二光线再依序传递至所述分光器以及所述影像分析单元,

其中,所述参考镜沿第一方向移动,当所述第一光线与所述第二光线产生干涉,得以获取相对的光学路径长。

2.如权利要求1所述的光学影像装置,其中所述影像分析单元包括摄影单元。

3.如权利要求2所述的光学影像装置,其中所述摄影单元为电耦合装置摄影机或是互补性氧化金属半导体摄影机。

4.如权利要求1所述的光学影像装置,其中所述第一光学元件组包含反射镜以及透镜,通过所述分光器所述光源模块的所述光线依序传递至所述第一光学元件组的所述反射镜以及所述透镜。

5.如权利要求1所述的光学影像装置,其中所述参考镜得以往复移动。

6.如权利要求1所述的光学影像装置,其中所述参考镜为非球面镜或具有镀膜的透镜。

7.一种角膜测量的方法,其步骤包括:

提供一光线传递至第一光学元件组,提供又一光线传递至第二光学元件组,其中所述第二光学元件组包括参考镜;

将所述角膜沿第一方向分成多个获取区域;

通过所述第一光学元件组将所述光线传递角膜,并依序测量所述获取区域,且所述测量步骤包括:

使所述光线汇聚于所述获取区域;

所述光线被所述获取区域反射以形成第一光线;

所述光线被所述参考镜反射以形成第二光线;

耦合所述第一光线以及所述第二光线;

沿第一方向移动所述参考镜;以及

当所述第一光线与所述第二光线产生干涉,停止移动所述参考镜,获取所述第一光线与所述第二光线的相对的光学路径长,且所述光学路径长至少包含至少两个第一高度;

将所述第一高度分成第一群组以及第二群组;

将所述第一群组的所述第一高度叠合形成第一表面;

将所述第二群组的所述第一高度叠合形成第二表面;以及

将所述第一表面与所述第二表面叠合以形成角膜的立体图像。

8.如权利要求7所述的角膜测量的方法,其中将所述第一群组的所述第一高度叠合形成第一表面的步骤进一步包括:

通过内插法将所述第一高度叠合形成所述第一表面。

9.如权利要求7所述的角膜测量的方法,其中将所述第二群组的所述第一高度叠合形成第二表面的步骤进一步包括:

通过内插法将所述第二高度叠合形成所述第二表面。

10.如权利要求7所述的角膜测量的方法,其中所述影像分析单元包括摄影单元。

11.如权利要求10所述的角膜测量的方法,其中所述摄影单元为电耦合装置摄影机或是互补性金属氧化物半导体摄影机。

12.如权利要求7所述的角膜测量的方法,其中所述第一光学元件组包含反射镜以及透镜,通过所述分光器所述光源模块的所述光线依序传递至所述第一光学元件组的所述反射镜以及所述透镜。

13.如权利要求7所述的角膜测量的方法,其中所述参考镜得以往复移动。

14.如权利要求7所述的角膜测量的方法,其中所述参考镜为非球面镜或具有镀膜的透镜。

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