[发明专利]气体电离正比计数X光二维图像探测器在审

专利信息
申请号: 201310687216.5 申请日: 2013-12-12
公开(公告)号: CN104714246A 公开(公告)日: 2015-06-17
发明(设计)人: 吕建成;鲁远甫;刘鹏;焦国华;董玉明;罗阿郁;庞其昌 申请(专利权)人: 深圳先进技术研究院
主分类号: G01T1/28 分类号: G01T1/28;A61B6/00;A61B6/03
代理公司: 深圳中一专利商标事务所 44237 代理人: 张全文
地址: 518055 广东省深圳*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 气体 电离 正比 计数 二维 图像 探测器
【权利要求书】:

1.气体电离正比计数X光二维图像探测器,其特征在于,包括阴极、阵列式阳极、设置于所述阴极和阵列式阳极之间的通道板以及将所述阴极、阵列式阳极和通道板包封在内的密封壳,于所述密封壳内充有工作气体;所述通道板由许多个并行排列的微通道管构成,用于对X光电离产生的负离子进行准直,所述微通道板的输入端设有聚焦极,输出端设有收集极;

所述阵列式阳极加高电位产生高压加速电场,使所述负离子在到达阳极前形成一次雪崩电离,产生二次电子;

所述阵列式阳极是由多个电极单元构成的平面阵列,用于吸收所述二次电子形成输出信号。

2.如权利要求1所述的气体电离正比计数X光二维图像探测器,其特征在于,所述工作气体为1~1.3大气压的混合气体。

3.如权利要求1所述的气体电离正比计数X光二维图像探测器,其特征在于,所述微通道板由绝缘材料加工而成。

4.如权利要求1所述的气体电离正比计数X光二维图像探测器,其特征在于,所述密封壳具有一X射线输入窗,所述X射线输入窗采用0.5-1mm厚的钛板制作。

5.一种X射线成像设备,其特征在于,包括权利要求1至4任一项所述的气体电离正比计数X光二维图像探测器。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳先进技术研究院;,未经深圳先进技术研究院;许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201310687216.5/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top