[发明专利]一种光电子后电离的电离源及其应用无效

专利信息
申请号: 201310691169.1 申请日: 2013-12-13
公开(公告)号: CN104716011A 公开(公告)日: 2015-06-17
发明(设计)人: 李海洋;赵无垛;王卫国;陈平;花磊;陈文东;刘巍 申请(专利权)人: 中国科学院大连化学物理研究所
主分类号: H01J49/16 分类号: H01J49/16;G01N27/64
代理公司: 沈阳科苑专利商标代理有限公司 21002 代理人: 刘阳
地址: 116023 *** 国省代码: 辽宁;21
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摘要:
搜索关键词: 一种 光电子 电离 及其 应用
【权利要求书】:

1.一种光电子后电离的电离源及其应用,其特征在于:包括紫外光源(1)、样品腔(2)、金属栅网A(3)、金属栅网B(4)、样品(5)、一次离子源(6)、质谱检测器(7)和孔(8);

样品腔(2)是一个中空的箱体,材料为绝缘体,箱体上面设置有互通的孔,其中两个贯穿箱体的孔在一条线上,两个贯穿箱体的孔上面分别设置有金属栅网A(3)和金属栅网B(4);样品腔(2)上第三个孔孔(8)与两个贯穿箱体的孔相交叉;孔(8)的底部设置有样品台用于放置样品(5)。

2.根据权利要求1所述的光电子后电离的电离源及其应用,其特征在于:

紫外光源(1)为能够产生紫外光的设备,包括真空紫外灯、二极管、氙灯、汞灯或紫外激光器;

所述金属栅网A(3)和金属栅网B(4)材料为各种电子逸出功小于紫外光源电离能的金属及合金。

3.根据权利要求1或2所述的光电子后电离的电离源及其应用,其特征在于:紫外光源(1)与金属栅网A(3)的距离小于2厘米;紫外光源(1)发出的紫外光能够照射到金属栅网A(3);质谱检测器(7)置于样品腔(2)外侧,质谱检测器(7)与金属栅网B(4)的距离小于10厘米。

4.根据权利要求1所述的光电子后电离的电离源及其应用,其特征在于:一次离子源(6)通过孔(8)进入样品腔(2),然后照射到样品(5)上。

5.根据权利要求1所述电离源,其特征在于:金属栅网A(3)和金属栅网B(4)上施加直流电压,金属栅网A(3)上的电压与金属栅网B(4)上的电压差小于30V。

6.一种权利要求1所述的光电子后电离的电离源的应用,其特征在于:光电子后电离的电离源和质谱联用,实现地质样品的准确定量分析;其电离与检测过程为:首先紫外光源(1)照射金属栅网A(3)上产生低能电子,一次离子源(6)轰击样品(5)产生气相样品分子,电子与气相样品结合产生样品负离子,样品负离子在电场的作用下经金属栅网B(4)进入质谱检测器(7)进行检测。

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