[发明专利]一种集成电路设计规则文件的优化方法在审
申请号: | 201310691715.1 | 申请日: | 2013-12-17 |
公开(公告)号: | CN104715098A | 公开(公告)日: | 2015-06-17 |
发明(设计)人: | 戴文华;李桢荣;张晋民;陈光前;王小波;白丽双 | 申请(专利权)人: | 北京华大九天软件有限公司 |
主分类号: | G06F17/50 | 分类号: | G06F17/50 |
代理公司: | 无 | 代理人: | 无 |
地址: | 100102 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 集成电路设计 规则 文件 优化 方法 | ||
1.本发明提供一种集成电路设计规则文件的优化方法,其特征在于:首先分析设计规则文件内容中图层之间的关系,得到所有图层组成的拓扑结构有向图,然后查找所有同构的拓扑结构子图,再对每组同构的拓扑结构子图生成宏结构并用宏结构替换原有设计规则的相应内容。
2.根据权利要求1所述的分析设计规则文件内容中图层之间的关系,得到所有图层组成的拓扑结构有向图,其特征在于:解析设计规则文件,按照各图层之间的依赖关系生成所有图层组成的拓扑结构有向图G,并建立命令到其所有输出图层的索引Map;遍历拓扑结构有向图G中所有图层的生成命令,按使用频率从高到低排序,图层深度的范围从拓扑结构有向图G的最大图层深度值到2,然后命令与图层深度两两组合,生成条件表C{C1, C2 …}(其中每个条件Ci包括命令和图层深度);遍历条件表C,根据每一个条件Ci查找同构的拓扑结构子图。
3.根据权利要求1所述的在整个规则内容的拓扑结构有向图中,查找所有同构的拓扑结构子图,其特征在于:
第一步,根据条件Ci中的命令,从索引Map中找到拓扑结构有向图G中该命令的所有输出图层集合A;遍历集合A,以当前图层An为起始节点,按照条件Ci中的图层深度在拓扑结构有向图G中提取出拓扑结构子图Tn;最后由图层集合A生成一个拓扑结构子图集合T{T1, T2 …};
第二步,对拓扑结构子图集合T中的所有子图Tn进行哈希和归类,得到多个拓扑结构子图集合T`n{T`n1, T`n2 …}(n=a,b…);
第三步,遍历所有的拓扑结构子图集合T`n(n=a,b …),对子图集合T`n中的所有子图进行同构比较,并最终得到同构子图集合ST(STn1, STn2 …)(n=a,b…)。
4.根据权利要求1所述的对每组同构的拓扑结构子图生成宏结构并用宏结构替换原有设计规则的相应内容,其特征在于:遍历所有的同构子图集合ST(STn1, STn2 …)(n=a,b…),对每一个同构子图集合STn,生成宏结构,并进行内容替换。
5.根据权利要求3所述的对拓扑结构子图集合T中的所有子图Tn进行哈希和归类,得到多个拓扑结构子图集合T`n{T`n1, T`n2 …}(n=a,b…),其特征在于:
第一步,哈希方法:从拓扑结构子图Tn的起始节点图层R开始,遍历子图,哈希每一个节点中图层的生成命令,并将哈希值做移位相加;
第二步,归类:将拓扑结构子图集合T按哈希值分解成多个拓扑结构子图集合T`n{T`n1, T`n2 …}(n=a,b…),其中哈希值相同的子图放入同一个集合,哈希值不同的子图不放入同一个集合。
6.根据权利要求3所述的遍历所有的拓扑结构子图集合T`n(n=a,b …),对子图集合T`n中的所有子图进行同构比较,并最终得到同构子图集合ST(STn1, STn2 …)(n=a,b…),其特征在于:多节点同步遍历子图集合T`n,并在遍历中每一步对子图集合T`n做一次等价类拆分;
6.1 多节点同步遍历:定义一节点数组Vn(Vn的节点数目等于集合T`n中的子图数量),分别存储T`n中对应子图的起始节点;取T`n中某一子图T`n1为参照,Vn中对应节点Vn1遍历子图T`n1,同时其它节点Vni做同步遍历操作,存储对应子图T`ni的对应节点;针对遍历中Vn的每一组节点,做等价类拆分步骤;
6.2 等价类拆分:处理节点数组Vn,按各节点内图层的生成命令内容是否相同将子图集合T`n拆分成多个子图集合,其中集合内的子图所对应节点命令内容相同,集合间的子图所对应节点命令内容不相同,这样,最终集合T`n将被拆分成同构子图集合STn。
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