[发明专利]空间点距测量仪在审
申请号: | 201310693564.3 | 申请日: | 2013-12-18 |
公开(公告)号: | CN104197804A | 公开(公告)日: | 2014-12-10 |
发明(设计)人: | 周成华;孙明昊;刘向阳;白弘基 | 申请(专利权)人: | 浙江吉利控股集团有限公司;湖南吉利汽车部件有限公司 |
主分类号: | G01B5/02 | 分类号: | G01B5/02 |
代理公司: | 杭州杭诚专利事务所有限公司 33109 | 代理人: | 尉伟敏 |
地址: | 310051 浙江*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 空间 测量仪 | ||
1.一种空间点距测量仪,其特征在于:包括放线盒,放线盒中具有两根测线的线卷,两根测线的端头从放线盒顶部同一放线口穿出,放线口环周上设有角度测量盘,两测线上分别具有长度刻度。
2.根据权利要求1所述的空间点距测量仪,其特征在于:所述角度测量盘为以放线口为圆心的环形圈,环形圈为双层结构,具有相互叠放并可相对独立转动的上环形圈和下环形圈,上环形圈和下环形圈上分别具有供两根测线分别穿过的穿线孔,至少其中一层环形圈上以穿线孔为零点标有角度刻度。
3.根据权利要求2所述的空间点距测量仪,其特征在于:所诉下环形圈与放线盒之间具有供下环形圈转动的环形滑轨,上环形圈和下环形圈之间具有供上环形圈转动的环形滑轨。
4.根据权利要求2或3所述的空间点距测量仪,其特征在于:所述上环形圈和下环形圈均有以穿线孔为零点的角度刻度,上环形圈和下环形圈角度刻度方向均沿顺时针或者均沿逆时针。
5.根据权利要求2或3所述的空间点距测量仪,其特征在于:所诉上环形圈的角度刻度线刻于上环形圈下边沿,下环形圈的角度刻度线刻于下环形圈上边沿。
6.根据权利要求2或3所述的空间点距测量仪,其特征在于:所述测线从端部起始标记长度刻度,长度刻度的起始刻度为环形圈的半径。
7.根据权利要求2或3所述的空间点距测量仪,其特征在于:所述测线穿出穿线孔的根部上套设有放线套筒。
8.根据权利要求1或2或3所述的空间点距测量仪,其特征在于:所述测线的端头具有用于固定的套环。
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