[发明专利]一种高精度变温微波黑体定标源的综合设计方法在审

专利信息
申请号: 201310706534.1 申请日: 2013-12-19
公开(公告)号: CN103616079A 公开(公告)日: 2014-03-05
发明(设计)人: 年丰;程春悦;何巍;翟宏;杨于杰 申请(专利权)人: 北京无线电计量测试研究所
主分类号: G01J5/00 分类号: G01J5/00
代理公司: 北京正理专利代理有限公司 11257 代理人: 张文祎
地址: 100854 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 高精度 微波 黑体 定标 综合 设计 方法
【权利要求书】:

1.一种高精度变温微波黑体定标源的综合设计方法,其特征在于,该设计方法包括如下步骤:

S1:确定变温微波黑体定标源的工作频段、变温范围和工作环境;

S2:对黑体定标源进行电磁学特性优化设计;

S3:对黑体定标源进行热力学特性优化设计,并进行仿真分析;

S4:根据仿真分析结果,对黑体定标源电磁学特性优化设计进行反馈并重新设计,直至黑体定标源电磁学与热力学协同的优化结果符合要求;

S5:根据所述优化结果,加工黑体定标源并进行实验测试,并用测试结果反馈修正仿真分析。

2.根据权利要求1所述的一种高精度变温微波黑体定标源的综合设计方法,其特征在于,所述S2中对黑体定标源进行电磁学特性优化设计包括:

S201:对黑体定标源尺寸进行优化,确定黑体定标源的椎体高度和椎底边长或半径;

S202:对黑体定标源的尖劈阵列形式进行优化;

S203:对黑体定标源的尖劈表面吸波材料涂覆方式进行优化。

3.根据权利要求2所述的一种高精度变温微波黑体定标源的综合设计方法,其特征在于,所述S201黑体定标源锥底边长或半径与黑体定标源工作频段低频点f1所对应的波长相近,黑体定标源锥体高度为锥底边长或半径的2~6倍。

4.根据权利要求2所述的一种高精度变温微波黑体定标源的综合设计方法,其特征在于,所述S202黑体定标源尖劈阵列形式包括方锥、圆锥或六棱锥阵列。

5.根据权利要求2所述的一种高精度变温微波黑体定标源的综合设计方法,其特征在于,所述S203对黑体定标源的尖劈表面吸波材料涂覆方式采用吸波材料单层均匀厚度涂敷、吸波材料单层渐变厚度涂敷、多种吸波材料多层均匀涂敷或多种吸波材料多层渐变涂敷。

6.根据权利要求1所述的一种高精度变温微波黑体定标源的综合设计方法,其特征在于,所述S3对黑体定标源进行热力学特性优化设计包括:采用热力学数值分析方法对在实验室条件下和热真空条件下,确定变温微波黑体定标源尖劈表面物理温度分布。

7.根据权利要求1所述的一种高精度变温微波黑体定标源的综合设计方法,其特征在于,所述S4对黑体定标源电磁学特性优化设计进行反馈并重新设计是指重新设计黑体定标源尖劈阵列尺寸,阵列形式,吸波材料涂覆方式。

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