[发明专利]汽车继电器性能检测装置及其检测方法

权利要求书

1.一种汽车继电器性能检测装置，由电源供电，其特征在于：包括第一单片机、第二单片机、基础三极管、基础电阻、若干个输入按键、至少一条继电器检测通路和显示仪，所述电议单片机的一个输出口与基础三极管的基极连接，所述基础三极管的集电极与电源连接，所述基础三极管的发射极通过基础电阻与第二单片机的一个输入口连接，每个所述的输入按键均与第一单片机连接，所述显示仪与所述的第二单片机连接，每个所述继电器插盘检测通路均包括通路三极管、继电器插盘、第一电阻和第二电阻，所述通路三极管的基极与第一单片机连接，所述通路三极管的集电极与电源连接，所述通路三极管的发射极与继电器插盘的输入端连接，所述继电器插盘的输出端与第一电阻的第一端连接，第一电阻的第二端与第二单片机连接，所述第二电阻的一端接地，第二电阻的第二端与第一电阻的第二端连接。

2.根据权利要求1所述的汽车继电器性能检测装置，其特征在于：还包括若干个用于显示继电器性能合格的指示灯，每条继电器检测通路均对应有一个指示灯，每个所述的指示灯均与所述的第二单片机连接。

3.根据权利要求1所述的汽车继电器性能检测装置，其特征在于：所述的显示仪为数码管显示仪。

4.根据权利要求1或2或3所述的汽车继电器性能检测装置，其特征在于：所述的汽车继电器性能检测装置还包括由计算机构成的上位机，第二单片机的串行通讯口与所述的上位机通讯连接。

5.根据权利要求4所述的汽车继电器性能检测装置，其特征在于：所述每个继电器插盘的两端均并联有一个防反接二极管。

6.一种汽车继电器性能检测方法，适用于如权利要求5所述的汽车继电器性能装置，其特征在于：包括以下步骤：

步骤一：汽车继电器性能检测装置初始化，上位机、第一单片机和第二单片机上电，被测继电器插入继电器插盘；

步骤二：根据使用者的按键选定，第一单片机通过基础电阻向第二单片机输出基准波形，第一单片机向继电器检测通路输出测试波形，所述的测试波形由基准波形和延时波形构成，延时波形为低电平脉冲，每个基准波形的周期均由一个触发高电平和一个间隔低电平构成，基准波形的高电平电压大于继电器检测通路的触发电压，所述触发高电平的脉宽和所述间隔低电平的脉宽均由人工预设，延时波形的时间与一个基准波形的周期时间相同；

步骤三：第二单片机扫描与继电器检测通路连接的输入口获取测定波形，第二单片机将获取的测定波形与基础波形进行对比，记录测定波形与基础波形的重合率和与此重合率对应的延时波形的时间数值，然后降低当前延时波形的时间数值，如果当前延时波形的时间数值等于零则执行步骤四，否则重新执行步骤三；

步骤四：第二单片机比较得出每个继电器检测通路的测定波形与基础波形的最高重合率的，将最高重合率和与最高重合率对应的延时波形的时间数值记录并输出至上位机，第一单片机输出检测波形，检测波形由基准波形和最佳延时波形构成，最佳延时波形的时间等于与最高重合率对应的延时波形的时间数值，若最高重合率大于基础合格值则执行步骤五，否则直接输出不合格信号至显示仪或上位机，同时跳转至步骤八；

步骤五：第一单片机同步降低基准波形和检测波形中触发高电平的脉宽后输出基准波形和检测波形，第二单片机扫描与继电器检测通路连接的输入口获取测定波形，第二单片机将获取的测定波形与基础波形进行对比，如果测定波形与基础波形的重合率小于第一合格值，第二单片机将当前基准波形中触发高电平的脉宽值作为测定高电平脉宽值记录，然后跳转执行步骤六，否则重复执行步骤五；

步骤六：第一单片机同步降低基准波形和检测波形中间隔低电平的脉宽后输出基准波形和检测波形，第二单片机扫描与继电器检测通路连接的输入口获取测定波形，第二单片机将获取的测定波形与基础波形进行对比，如果测定波形与基础波形的重合率小于第二合格值，第二单片机将当前基准波形中间隔低电平的脉宽值作为测定低电平脉宽值记录，然后跳转执行步骤七，否则重复执行步骤六；

步骤七：第一单片机持续输出基准波形和检测波形，第二单片机对基准波形进行计数，同时第二单片机选取最近25个基准波形的周期计算所有测定波形与基础波形的重合率，如果任意一个测定波形与基础波形的重合率小于设定耐久值，则第二单片机输出当前计数值和重合率小于设定数据测定波形的输入口的输入口号至上位机，然后继续执行步骤七，直至所有基准波形和检测波形的重合率均小于设定耐久值后，第二单片机输出当前计数值和重合率小于设定数据测定波形的输入口的输入口号至上位机，然后跳转执行步骤八；

步骤八：汽车继电器性能检测装置保存数据后断电，汽车继电器性能检测方法结束。

7.根据权利要求6所述的汽车继电器性能检测装置，其特征在于：所述的步骤七中，第一单片机持续输出设定数量的基准波形和检测波形，第二单片机对基准波形进行计数，同时第二单片机选取最近25个基准波形的周期计算所有测定波形与基础波形的重合率，如果任意一个测定波形与基础波形的重合率小于设定耐久值，则第二单片机输出当前计数值和重合率小于设定数据测定波形的输入口的输入口号至上位机，然后继续执行步骤七，直至所有基准波形和检测波形的重合率均小于设定耐久值或第一单片机持续输出设定数量的基准波形和检测波形结束，然后，第二单片机输出当前计数值和重合率小于设定数据测定波形的输入口的输入口号至上位机，然后跳转执行步骤八。