[发明专利]自动测试设备以及时脉同步方法

说明书

技术领域

本发明有关于一种自动测试设备以及时脉同步方法，且特别是有关于一种可快速同步不同检测模块的时脉的自动测试设备以及时脉同步方法。

背景技术

自动测试设备(automatic test equipment，ATE)，例如半导体集成电路(integrated circuit，IC)测试机台，常会遇到在同一颗集成电路下有不同测试速度要求，造成自动测试设备中的各个检测模块的信号产生频率偏移或相位偏移，使得各个检测模块的时脉(clock rate，亦称时脉速度)产生不同步的现象。

当自动测试设备对上述的集成电路检测完毕后，需要将自动测试设备中的各个检测模块的时脉进行同步，否则无下进行下一阶段的检测程序。

然而，公知的自动测试设备的同步架构大多是以延缓或加快各个检测模块的时脉来进行同步，除了控制复杂且繁复而需花费较多时间来进行同步之外，各个检测模块的时脉对应于时间轴上时也无法很精确的对准同步，造成后续的检测程序可能会因此而失准。

发明内容

有鉴于以上的问题，本揭露提出一种自动测试设备以及时脉同步方法，其通过对自动测试设备中的多个检测模块执行同步程序，使得执行完同步程序的所述多个检测模块的时脉可以同步于预设时脉。

根据本揭露一实施例中的一种自动测试设备，此自动测试设备包括第一检测模块、第二检测模块、时脉产生模块以及处理模块。其中，处理模块电性连接第一检测模块、第二检测模块与时脉产生模块。第一检测模块操作于第一初始时脉。第二检测模块操作于第二初始时脉。时脉产生模块用以产生预设时脉。处理模块用以对第一检测模块与第二检测模块提供触发信号，此触发信号用以指示第一检测模块与第二检测模块执行同步程序。其中，于同步程序中，第一检测模块在第一时间间隔内重设第一检测模块的时脉，并在第一时间间隔结束后参考预设时脉设定第一检测模块的时脉为第一时脉；第二检测模块在第二时间间隔内重设第二检测模块的时脉，并在第二时间间隔结束后参考预设时脉设定第二检测模块的时脉为第二时脉。

上述自动测试设备，其中该第一时脉与该第二时脉皆同步于该预设时脉。

上述的自动测试设备，其中该第一时间间隔内具有至少二个周期的该第一初始时脉，该第二时间间隔内具有至少二个周期的该第二初始时脉，且该第一检测模块于该第一时间间隔内的第一个周期的时脉与该第二检测模块于该第二时间间隔内的第一个周期的时脉分别用以指示该第一检测模块与该第二检测模块进行重置，该第一检测模块于该第一时间间隔内的第二个周期的时脉与该第二检测模块于该第二时间间隔内的第二个周期的时脉分别用以指示该第一检测模块与该第二检测模块进行设定。

上述的自动测试设备，其中当该第一初始时脉小于该第二初始时脉时，该第一时间间隔大于该第二时间间隔。

上述的自动测试设备，其中该第一检测模块与该第二检测模块于执行该同步程序时的时间区间定义为一同步时间间隔，该同步时间间隔接续在该触发信号结束之后，且该同步时间间隔的长度大于等于初始时脉较慢的时间间隔。

根据本揭露一实施例中的一种时脉同步方法，此时脉同步方法适用于自动测试设备，且此自动测试设备至少包括第一检测模块与第二检测模块。其中，第一检测模块与第二检测模块分别操作于第一初始时脉与第二初始时脉。时脉同步方法的步骤流程依序如下所述。首先，提供预设时脉。接着，产生触发信号，此触发信号用以指示第一检测模块与第二检测模块执行同步程序。最后，于同步程序中，第一检测模块在第一时间间隔内重设第一检测模块的时脉，并在第一时间间隔结束后参考预设时脉设定第一检测模块的时脉为第一时脉。同一时间，于同步程序中，第二检测模块在第二时间间隔内重设第二检测模块的时脉，并在第二时间间隔结束后参考预设时脉设定第二检测模块的时脉为第二时脉。

上述时脉同步方法，其中该第一时脉与该第二时脉皆同步于该预设时脉。

上述的时脉同步方法，其中该第一时间间隔内具有至少二个周期的该第一初始时脉，该第二时间间隔内具有至少二个周期的该第二初始时脉，且该第一检测模块于该第一时间间隔内的第一个周期的时脉与该第二检测模块于该第二时间间隔内的第一个周期的时脉分别用以指示该第一检测模块与该第二检测模块进行重置，该第一检测模块于该第一时间间隔内的第二个周期的时脉与该第二检测模块于该第二时间间隔内的第二个周期的时脉分别用以指示该第一检测模块与该第二检测模块进行设定。

上述的时脉同步方法，其中当该第一初始时脉小于该第二初始时脉时，该第一时间间隔大于该第二时间间隔。