[发明专利]一种基于FPGA图像数据检测方法及装置有效
申请号: | 201310712170.8 | 申请日: | 2013-12-20 |
公开(公告)号: | CN103647966A | 公开(公告)日: | 2014-03-19 |
发明(设计)人: | 陈燕凯;杨剑;钟高峰 | 申请(专利权)人: | 广东威创视讯科技股份有限公司 |
主分类号: | H04N17/00 | 分类号: | H04N17/00 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 曹志霞 |
地址: | 510663 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 fpga 图像 数据 检测 方法 装置 | ||
1.一种基于FPGA图像数据检测方法,其特征在于,包括:
接收测试图像数据,所述测试图像数据包含有n个像素;
对通过处理模块处理后的所述测试图像数据进行跟踪检测;
若检测到所述测试图像数据的像素值与预置像素信息不一致时,则输出高电平信号;
通过读取寄存器的位置信息确定输出所述高电平信号的所述处理模块。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,对处理模块处理后的所述测试图像数据进行跟踪检测,若检测到所述测试图像数据的像素值与预置像素信息不一致时,则输出高电平信号具体包括:
对通过所述处理模块非算法处理后的所述测试图像数据进行跟踪检测;
若检测到所述像素值与预置的所述像素个数不相等时,输出所述高电平信号。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,对通过处理模块处理后的所述测试图像数据进行跟踪检测,若检测到所述测试图像数据的像素值与预置像素信息不一致时,则输出高电平信号具体包括:
对所述测试图像数据进行算法处理后对所述测试图像数据进行跟踪检测获取第一像素值;
对通过处理模块非算法处理后的所述测试图像数据进行跟踪检测获取第二像素值;
若检测到经过预置时间延迟的所述第一像素值与所述第二像素值不一致时,则输出所述高电平信号。
4.根据权利要求1至3中任意一项所述的方法,其特征在于,对通过处理模块处理后的所述测试图像数据进行跟踪检测之前还包括:
将所述处理模块的所述位置信息存储在寄存器中。
5.根据权利要求1至3中任意一项所述的方法,其特征在于,通过读取寄存器的位置信息确定输出所述高电平信号的所述处理模块之后还包括:
通过逻辑分析工具对输出高电平信号的所述处理模块进行分析,确定所述像素值位置。
6.一种基于FPGA图像数据检测装置,其特征在于,包括:
接收模块,用于接收测试图像数据,所述测试图像数据包含有n个像素;
处理模块,用于处理所述测试图像数据;
检测模块,用于对通过处理模块处理后的所述测试图像数据进行跟踪检测;
若检测到所述测试图像数据的像素值与预置像素不一致时,则输出高电平信号;
确定模块,用于通过读取寄存器的位置信息确定输出所述高电平信号的所述处理模块。
7.根据权利要求6所述的一种基于FPGA图像数据检测装置,其特征在于,包括:
第一处理子模块,对通过处理模块非算法处理后的所述测试图像数据进行跟踪检测;
第一检测子模块,用于若检测到所述像素值与预置的所述像素个数不相等时,输出高电平。
8.根据权利要求6所述的一种基于FPGA图像数据检测装置,其特征在于,包括:
第二处理子模块,用于对所述测试图像数据进行算法处理后对所述测试图像数据进行跟踪检测获取第一像素值;
第三处理子模块,用于对通过处理模块非算法处理后的所述测试图像数据进行跟踪检测获取第二像素值;
第二检测子模块,用于若检测到经过预置时间延迟的所述第一像素值与所述第二像素值不一致时,则输出所述高电平信号。
9.根据权利要求6至7中任意一项所述的一种基于FPGA图像数据检测装置,其特征在于,处理模块之前还包括:
寄存模块,用于将所述处理模块信息存储在寄存器中。
10.根据权利要求6至7中任意一项所述的一种基于FPGA图像数据检测装置,其特征在于,确定模块之后还包括:
分析模块,用于通过逻辑分析工具对输出高电平信号的所述处理模块进行分析,确定所述像素值位置。
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