[发明专利]信号分析装置及信号分析方法有效

专利信息
申请号: 201310713394.0 申请日: 2013-12-20
公开(公告)号: CN104076202A 公开(公告)日: 2014-10-01
发明(设计)人: 大谷畅;秋山典洋 申请(专利权)人: 安立股份有限公司
主分类号: G01R23/16 分类号: G01R23/16
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 康建峰;李春晖
地址: 日本神奈*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 信号 分析 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种信号分析装置(1),其具备:

频率转换机构(10),包括对模拟的输入信号的信号电平进行调整的第1衰减器(11),且将所述输入信号频率转换成预定中间频率的信号;

第2衰减机构(21),对所述频率转换机构的输出信号的信号电平进行调整;

模数转换机构(23),将所述第2衰减机构的输出信号转换成数字信号;

频率特性校正机构(24),对所述模数转换机构的输出信号的频率特性进行校正;及

信号分析机构(26),对从所述频率特性校正机构输出的信号进行分析,所述信号分析装置的特征在于,具备:

噪声层电平减法运算机构(25),接收从所述频率特性校正机构输出的信号,并从表示预定频带中将包含所述第1衰减器的所述频率转换机构、所述第2衰减机构及所述模数转换机构包含在信号通道内且至所述频率特性校正机构为止的所述信号通道的噪声电平的噪声层电平中,减去所述模数转换机构的噪声电平,并向所述信号分析机构输出已进行减法运算的信号。

2.根据权利要求1所述的信号分析装置,其特征在于,所述噪声层电平减法运算机构具备:

噪声层电平测定部(25a),在所述预定频带中,将所述第2衰减机构的增益为第1增益时的噪声层电平作为第1噪声层电平进行测定,并且将所述第2衰减机构的增益为第2增益时的噪声层电平作为第2噪声层电平进行测定;

噪声电平计算部(25b),根据所述第1及所述第2噪声层电平、所述第2衰减机构及所述频率特性校正机构的增益,计算所述预定频带中的所述模数转换机构的噪声电平;及

噪声电平减法运算部(25c),从所述噪声层电平中减去所述模数转换机构的噪声电平。

3.一种信号分析方法,其利用信号分析装置(1)对输入信号进行分析,所述信号分析装置具备:

频率转换机构(10),包括对模拟的所述输入信号的信号电平进行调整的第1衰减器(11),且将所述输入信号频率转换成预定中间频率的信号;

第2衰减机构(21),对所述频率转换机构的输出信号的信号电平进行调整;

模数转换机构(23),将所述第2衰减机构的输出信号转换成数字信号;

频率特性校正机构(24),对所述模数转换机构的输出信号的频率特性进行校正;及

信号分析机构(26),对从所述频率特性校正机构输出的信号进行分析,所述信号分析方法的特征在于,包括:

噪声层电平减法运算步骤(S11~S17),在该步骤中,接收从所述频率特性校正机构输出的信号,从表示预定频带中所述第1衰减器至所述频率特性校正机构为止的所有噪声电平的噪声层电平中,减去所述模数转换机构的噪声电平,并向所信号分析机构输出已进行减法运算的信号。

4.根据权利要求3所述的信号分析方法,其特征在于,所述噪声层电平减法运算步骤包括如下步骤:

噪声层电平测定步骤(S13、S15),在该步骤中,在所述预定频带中将所述第2衰减机构的增益为第1增益时的噪声层电平作为第1噪声层电平进行测定,并且将所述第2衰减机构的增益为第2增益时的噪声层电平作为第2噪声层电平进行测定;

噪声电平计算步骤(S16),在该步骤中,根据所述第1及所述第2噪声层电平、所述第2衰减机构及所述频率特性校正机构的增益,计算所述预定频带中的所述模数转换机构的噪声电平;及

噪声电平减法运算步骤(S17),在该步骤中,从所述噪声层电平中减去所述模数转换机构的噪声电平。

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