[发明专利]近距离主动式毫米波圆柱扫描成像系统的免插值重构方法有效

专利信息
申请号: 201310716710.X 申请日: 2013-12-23
公开(公告)号: CN103630907A 公开(公告)日: 2014-03-12
发明(设计)人: 温鑫;方维海;费鹏;年丰 申请(专利权)人: 北京无线电计量测试研究所
主分类号: G01S17/89 分类号: G01S17/89
代理公司: 北京正理专利代理有限公司 11257 代理人: 张文祎
地址: 100854 北京*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 近距离 主动 毫米波 圆柱 扫描 成像 系统 免插值重构 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种近距离主动式毫米波圆柱扫描成像系统的免插值重构方法。

背景技术

插值运算是近距离主动式毫米波圆柱扫描成像系统图像重构过程中引入计算误差最大、计算时间最长的步骤,如何有效地减小插值过程中引入的误差以及减少系统的计算时间成为近距离主动式毫米波圆柱扫描成像的关键技术。

目前,已经申请和相关的学术论文中采用的三维图象重构的算法有基于近似方法的重构算法、波前重构算法以及基于压缩感知的重构算法。基于近似方法的重构算法包含极坐标格式处理,距离多普勒成像,所依据的近似值限制了目标区域的尺寸、雷达频率或者合成孔径范围。基于近似方法的重构算法对应用条件的限制,使得它的应用范围有限,而且不适合成像精度要求较高的场合。目前,主要的波前重建方法有:借助空间频率内插的数字重建、通过距离堆积实现数字重建以及通过时域相关和后向投影实现的数字重建。借助空间频率内插的数字重建是通过空间频率域内插完成样本点的均匀分布,空间频率域内的插值将导致空间域重建图像的边沿退化。由于借助空间频率内插的数字重建的运算量小,适合实时运算的条件,所以该成像算法被大量的使用。距离堆积实现数字重建算法将测量信号傅立叶变换与对应距离上的基准信号的傅立叶变换进行匹配滤波等重复运算来覆盖整个目标区域。距离堆积算法不需要插值,因此不受截断误差的影响,而且,还不包括离散傅立叶变换的交叠误差,然而,距离堆积的实现要比借助空间频率内插的数字重建方法更耗时,这限制了该算法在实际成像系统中的应用。时域相关和后向投影实现的数字重建算法是利用移变滤波器对采样信号进行卷积运算来实现重构的。时域相关(TDC)成像方法的基本原理只不过是匹配滤波的相关实现,使给定栅格点上的采样信号特征与快时间域和慢时间域中所测得的数据相关起来,结果就是该栅格点反射率的测量。TDC方法的主要缺点是计算成本高,这是由于为相关进行的离散求和,以及过采样造成的。后向投影算法为了形成空间域内给定栅格点的目标函数,对于所有合成孔径位置,我们可将与该点位置相对应的快时间域单元上的数据相干相加。实现过程中,必须对快时间域匹配滤波后的信号离散快时间域采样进行插值,若不采用足够精确的插值,就会造成高分辨率信息的损失。压缩感知的重构算法是一种充分利用信号稀疏性或可压缩性的信号获取和重构理论,压缩感知应用于成像的三个关键点是分析雷达回波数据,建立信号的稀疏模型;构造非相干测量矩阵,确定合理的观测模型;利用压缩采样结果,设计有效稳健的重构算法。由于雷达目标散射体是冲击脉冲、阶跃函数、doublets等组合的集合,限制了信号的稀疏假设,以及面对实际复杂多变的目标,该重构算法是否适合近距离主动式毫米波三维成像场合仍需要进一步研究。

发明内容

针对以上现有技术的不足,本发明提供一种近距离主动式毫米波圆柱扫描成像系统的免插值重构方法,以提高成像系统的成像质量和减少系统的计算时间。

本发明的目的通过以下技术方案来实现:

近距离主动式毫米波圆柱扫描成像系统的免插值重构方法包括如下步骤:

S1.对成像系统的采样数据沿着θ和z方向进行二维傅立叶变换;

S2.对步骤1的结果进行相位补偿;

S3.对步骤2的结果沿着θ方向进行逆傅立叶变换;

S4.沿着2krcosθ,2krsinθ以及kz的采样位置,建立NUFFT三维矩阵;

S5.根据步骤4建立的NUFFT三维矩阵,对步骤3的结果进行三维逆傅立叶变换。

所述步骤1进行傅里叶变换,得到数据S(ω,ξ,kz)。

所述步骤2相位补偿时,将S(ω,ξ,kz)乘以相位补偿因子其中R为成像系统的扫描半径,kω=ωc定义为波数,

所述步骤4三维逆傅立叶变换包括:

1)利用第四步的结果计算傅立叶系数YN×N×N=∑ΧN×N×N×Fσ(2krcosθ,2krsinθ,kz);

2)利用三维傅立变换对YN×N×N进行运算得到σ′(x,y,z);

3)对σ′(x,y,z)进行变标处理σ(x,y,z)=σ′(x,y,z)·s-1得到目标三维空间散射强度分布σ(x,y,z),即完成了目标的三维重建。

本发明的优点在于:

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京无线电计量测试研究所,未经北京无线电计量测试研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201310716710.X/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top